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激光粒度儀

MS2000/NANOS/ZS

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北京沃特瑞爾科技發展有限公司

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面議

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MS2000/NANOS/ZS

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6668

產品介紹

技術參數 1.粒度測定范圍:0.6nm-6000nm 2.濃度范圍:0.1ppm-40%(W/v) 3.高分辨Zeta電位分析:可分辨5mV的Zeta電位差別 4.粒度測定范圍:0.02nm-2000um 5.溫度控制范圍:2-90度 -------------------------------------------------------------------------------- 主要特點 1.具有*低的納米粒度下限:可測量亞納米區及高分子大小 2.具有*寬的濃度應用范圍:0.1ppm – 40% (w/v)。*少樣品量僅0.75ml。 3.獨有的高分辨Zeta電位技術:可輕易發現污染物,并可測定高鹽濃度及極低遷移率的樣品 4.可對分子量進行測定,包括旋轉半徑和第二維里系數 5.**具有標準操作規程(SOP)的納米粒度分析儀器。可隨時間及溫度變化進行趨勢分析;與自動滴定儀相連接后,可自動測定粒度、Zeta電位隨pH、鹽濃度和電導率變化的,自動測定分子量 -------------------------------------------------------------------------------- 儀器介紹 [下載樣本] 2003年5月推出的Zetasizer Nano系列納米粒度和 Zeta電位分析儀是在2000年7月問世的Zetasizer HS系列和 2001年9月問世的HPPS的基礎上發展起來的,它不僅繼承了 原有儀器的鮮明特點(如測量范圍寬,濃度應用范圍廣,高分 辨Zeta電位,APD檢測器等),而且還發展了許多其它功能,包括 分子量測定,旋轉半徑,第二維里系數測定,SOP,和隨時間及溫度的 趨勢分析等。Zetasizer Nano ZS作為該系列中的**配置,與自動滴定系統相連后,還可自動進行粒度、Zeta電位和分子量分析,尚無其它廠家儀器可與之匹敵。

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