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單納米粒徑測定裝置IG-1000儀器簡介：
    IG-1000是單納米粒徑測定裝置，用于測定納米粒子，獲得了2009Pittcon大獎。與以往粒度測定儀器原理不同，IG方法（Induced Grating method）是島津公司開發的****的納米粒徑測定技術。IG-1000采用介電電泳原理，介電電泳ON時,形成部分的高(低)粒子濃度；介電電泳OFF時, 粒子擴散恢復為原始狀態；由介電電泳力使粒子構成衍射光柵，擴散后的濃度降低導致衍射光強度降低，從衍射光強度的時間變化可以得到粒子的擴散系數，進而得到粒子的粒徑。

光源：半導體激光（波長785nm）
測定原理：誘導衍射光柵法
測量范圍：0.5～200nm
測定體積：250~300uL
測定時間：總計30秒

上市時間：2009年5月
創新點:島津獨立開發的劃時代的納米粒徑測定技術。
1）測定范圍低至0.5nm，在單一納米顆粒領域可獲得良好的信噪比和靈敏度。
2）即便樣品中含有少量的粗大粒子對測定也沒有影響，克服了以往DLS產品耐污染性差的缺點。
3）IG-1000不使用散射光，因此不受物理參數的限制，不要求輸入折射率作為測量條件。
4）混合粒子的測定成為可能。
5）測定結果與其他顯微表征手段所得結果吻合的非常好。

主要特點：

單納米粒子的高靈敏度分析

極高的抗污染能力

良好的重現性