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DWS RheoLab擴散波譜儀

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北京賽普瑞生科技開發有限責任公司

德國

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面議

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736

產品介紹

以激光光散射為基礎的擴散波譜學受到越來越多的重視。傳統的光散射技術并不能有效的表征渾濁或者高濃的體系,而擴散波譜技術則可以做到這一點,能直接對渾濁或者高濃的樣品體系進行直接測試而無需稀釋。另外該儀器可以在無擾動、無破壞性的前提下反應樣品的流變性能。擴散波譜技術是一項非破壞性技術,與傳統的機械流變儀相比,測試范圍寬,測試高頻流變是該儀器的一大特色,另外還可以利用Cox-Merz定律實現頻率到剪切速率的轉化,可以對低至0.2毫升樣品量的少量樣品的微流變研究。而且與傳統的流變技術相比,DWS的測試速度快,測量頻率高,樣品需求量少。我們的DWS RheoLab采用了“雙池回波技術”(EP 1720000 A1),哪怕是在分析慢弛豫或固體狀材料時都能在短短幾分鐘內完成測試。

另外擴散波譜技術還能滿足其他軟物質體系表征的需求,如對凝膠進行凝膠點的測試(溫度,PH值的依賴性)、乳液的穩定性等。DWS尤其適用于那些渾濁的樣品體系,如高濃度懸浮液、乳劑、料漿、凝膠體、泡沫等。這是一項新興的(上世紀九十年代初期才被提出,本世紀才被商品化)表征技術,可以與傳統的光散射、流變等儀器形成良好的互補,用于軟物質的表征。

配置參數:

※ 標準配置前散射(透射模式)模式,提供背散射模式選項,提供整體DWS解決方案,通過電子快門系統實現兩種模式轉換;

※ 通過軟件進行數據采集和分析,用戶可自定義多腳本運行,進行在線微流變分析,可以得到粘彈模量、均方位移、平均光子自由程、蠕變柔量、損耗角正切和平均粒徑(利用背散射模式);

※ 自動測量得到平均光子自由程l*和吸收長度la。

※ 半導體激光光源,685nm,40mW,噪音小于0.5%,單模TEM00,相干長度>1m,預熱時間15分鐘,激光路徑處于密閉空間,安全等級為1級(根據EN 60825-1/11.01標準);

※ 兩個高檢測效率的單光子計數檢測器,量子效率>65% @ 685nm,標準死時間20ns;

※ 雙通道快速多tau/線性相關器,*小采樣時間12.5ns;

※ 測試溫度范圍(4℃ - 100℃),在實驗室溫度不高于23℃時溫控精度+/-0.02℃,露點以下測量時需接干燥空氣吹掃,儀器提供接口;

※ 儲存模量G'和損耗模量G"測量范圍1Hz-10MHz,彈性范圍:1Pa-50kPa;

※ 可測試1mPas以上的低粘度樣品;

※ 樣品池支架光程范圍1-10mm,可使用標準的光學池,使用1mm樣品池時樣品需求量降至150μL;

※ 儀器無需光學平臺,操作保養更加簡捷。

產品功能:

DWS RheoLab型擴散波譜儀采用了前散射和背散射(選項)技術,能夠分析軟物質的微流變以及超濃懸浮液的平均粒徑。

采用雙池回波技術(EP 1720000 A1),用于非遍歷性樣品表征,幾分鐘內得到儲存模量G'和損耗模量G",頻率上限可達10M Hz ;適用樣品濃度>1%(和粒徑有關),澄清樣品需加入示蹤粒子;可以測量穩定性,老化性以及凝膠點等。

使用背散射(選項)技術測量平均粒徑,測量范圍:50nm-1μm(和樣品相關);適用于顆粒濃度**為20%的牛頓流體體系,能獲得多分散性樣品的平均粒徑。

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DWS RheoLab擴散波譜儀

北京賽普瑞生科技開發有限責任公司

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