粉體行業在線展覽
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“銳”系列粒度粒形儀R-2000
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米譜科技（常州）有限公司
江蘇
面議
米譜科技
“銳”系列粒度粒形儀R-2000
1606
形態成像技術正迅速成為粒子表征的實驗室工具箱中必不可少的技術。提供自動化、快速的顆粒形態學信息，用于解決配方難題，優化材料性能，監控材料顆粒大小穩定性貫穿整個開發和制造過程。這些系統為過程控制和化和提供快速識別工藝偏差的手段。
分散 | 采用靜態圖像法進行測試，集成真空分散器，超大分散面，微米級分散，測試樣本量大。 |
完善 | MIP 軟件可提供箱形圖，散點圖等統計工具，可對同類型參數進行橫向對比，亦可對不同類型參數進行關聯分析。 |
真實 | 每個粒子的單個二維圖像與整個樣本的大小和形狀分布一起顯示。這為結果提供了強大的視覺證明，并可以確認和量化樣品分散中存在的聚集體或不需要的粒子。 |
快速 | 自動成像量成干上萬個粒子的時間比人工顯微鏡量少量粒子的時間要短，這使得測量在統計學上更加可靠。粒子圖像被自動、客觀地捕獲、測量、分析和分類，**限度地減少操作者的主觀性。 |
精準 | 由于對每個顆粒進行統計分析，故能夠精確檢出含量極少的“過大顆粒以及較小”顆粒，并可提供數量及體積作為加權因子，使得測試更加科學。 |
高效 | MIP 軟件架構不僅可以實時進行數據評估，而且可以在顆粒圖庫中存儲大量的顆粒圖像，帶有不同顆粒特征信息的顆粒圖片可以從顆粒圖庫中提取出來離線顯示和分類統計。 |
磨料、化工、地質、鋰電、金屬、纖維等顆粒展示：
與傳統方法對比
| 性能特點 | R-2000 | 篩分儀 | 激光粒度儀 | 光學顯微鏡 |
|---|---|---|---|---|
| 寬泛的動態測量范圍 | ++ | + | ++ | - |
| 重現性 | ++ | + | ++ | - |
| 窄分布測量和高分辨率 | ++ | - | + | ++ |
| 顆粒形態分析 | ++ | - | - | ++ |
| 分析結果可比性 | ++ | - | + | ++ |
| 大顆粒檢測能力 | ++ | ++ | - | + |
| 校正和檢驗 | ++ | ++ | + | + |
| 操作及維護 | ++ | ++ | ++ | - |
| 統計功能 | ++ | + | - | - |
技術參數
| 技術 | 靜態自動成像分析 |
| 測試范圍 | 10μm-5cm |
| 執行標準 | ISO-13322-1 |
| 光源類型 | 背向藍色光源（465納米）/前向白色光源 |
| 成像系統 | 帶有微透鏡的線陣CCD |
| 成像分辨率 | **50000*50000（6400dpi）* |
| 粒度參數 | 周長、凸包周長、面積、等效面積直徑、等效表面積直徑、等效周長直徑、**內切圓直徑、內徑、費雷特**直徑、費雷特*小直徑、勒讓德長徑、勒讓德短徑、測地線長度、*小外接圓直徑、平均直徑、骨架長度 |
| 粒形參數 | 球形度、橢圓比、延伸率、直線度、卷曲度、不規則度、密實度、圓形度、伸展度、圓度、堅固性、凹度、凸度、高寬比、鈍度、衛星化指數、平均灰度 |
| 數據格式 | Excel、bitmap、PDF |
| 可選附件 | 真空分散器 |
| 樣品回收 | 100%回收 |
| 尺寸與重量 | 尺寸：（L*W*H）900*450*297mm；重量：20.5kg |
| 工作環境 | 溫度：5℃-40℃；濕度：35-80% |
| 電源 | 110-240V 50/60Hz |
注：*拍攝視野為20*20cm時
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Insitec干法/濕法/噴霧式
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