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精微高博比表面積儀

JW-BK400系列

四站比表面及孔徑分析儀

比表面積及孔徑分布，是表征微納米粉體材料表面物性及孔結構的重要參數之一，常用、可靠的方法是靜態容量法氣體吸附。JW-BK400系列高通量全自動比表面及孔徑分析儀即能準確可靠解決粉體材料比表面積及孔徑分析問題，該產品配置4個獨立并列分析站，測試效率超高，可有效解決納米粉體材料的比表面介孔大孔高通量分析問題，滿足中大型企業多樣品、高效率測試需求。