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MaxMile的無(wú)汞探測(cè)器可廣泛用于各種有電子特性的半導(dǎo)體樣品。通過(guò)在材料中即時(shí)形成肖特基或mos器件來(lái)實(shí)現(xiàn)探測(cè)功能，不需要耗時(shí)的金屬化工藝。相比傳統(tǒng)的汞探測(cè)器，無(wú)汞探測(cè)器沒(méi)有汞累積中毒問(wèn)題，并可實(shí)現(xiàn)更復(fù)雜的測(cè)量。

無(wú)汞探測(cè)器具有快速、經(jīng)濟(jì)、無(wú)損于材料等特性。它們是研發(fā)和生產(chǎn)的理想工具，如過(guò)程監(jiān)控，質(zhì)量控制和快速反饋。

接觸方式：?jiǎn)谓佑|、雙接觸、混合接觸；

接觸面積:0.8-2 mm，可定制；

探頭控制：手動(dòng)、自動(dòng)和映射；

工作臺(tái)直徑：2"(50mm)-12"(300mm)。

接口：接口線長(zhǎng)度可任意定制。

單接觸無(wú)汞電探針通過(guò)與材料基體接觸進(jìn)行測(cè)量，而雙接觸探針測(cè)量則通過(guò)接觸帶有半絕緣體或絕緣體基底的半導(dǎo)體一側(cè)的兩個(gè)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量。混合接觸測(cè)量包括單接觸測(cè)量和雙接觸測(cè)量。