粉體行業在線展覽
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AMI-TOP系列 可擴展式比表面積及孔徑分析儀
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精微高博
AMI-TOP系列 可擴展式比表面積及孔徑分析儀
360
AMI-TOP系列
可擴展式比表面積及孔徑分析儀
孔徑范圍
0.35nm-500nm
比表面范圍
0.0001m2/g-無上限
中值孔徑重復性（SD）
≤0.02nm
比表面重復性（RSD）
±1%
比表面積測試范圍：0.0001m2~至無上限
孔徑分析范圍：0.35nm~500nm
電源：220V，50/60Hz
壓力分辨率：10-8Torr
傳感器陣列：1000Torr,10Torr,1Torr或0.1Torr
傳感器數量：可自由組合選配，根據您的實驗及應用需求
*低相對壓力p/p0：10-8，部分樣品達到10-9
Manifold：多重優化設計，提供*合適的死體積
靈活的真空配置：可選機械真空泵系統，也可選后置高真空分子泵系統
配置可選：2站或者4站可選
杜瓦電梯：每個分析站盤配備獨立的杜瓦升降電梯
P0管材質：不銹鋼材質
P0管數量：每個分析站盤配備獨立的p0管
軟件內嵌分析模型：t-plots/BJH/MP/DR/DA/HK/SF/NLDFT
通道數：標配4站脫氣機，可升級選配8站
溫度范圍：室溫400℃
溫度精度：±1°C
程序升溫：*多可設置10個升溫梯度
JW-132F
JW-M100
BK112
HX 100 型 全自動程序升溫化學吸附儀
AMI-TOP系列 可擴展式比表面積及孔徑分析儀
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JW-BK
JW-TB系列
BSD-660
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JW-DX
miniX
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GCTKP-700
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