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納米粒度及Zeta電位分析儀

納米粒度及Zeta電位分析儀

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澳譜特科技(上海)有限公司

上海

產品規格型號
參考報價:

面議

品牌:

澳譜特科技

型號:

納米粒度及Zeta電位分析儀

關注度:

1296

產品介紹

Zetatronix 系列納米粒度及Zeta電位分析儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細小,其表面的晶體結構發生變化,從而在電學、光學和化學活性等方面表現出獨特的性能。粒徑大小是表征納米材料性能的重要參數,準確了解顆粒粒度是控制納米材料性能的關鍵。Zeta電位是表征膠體分散系穩定性的關鍵參數,Zeta電位越高,膠體系統就越穩定,反之,Zeta電位越低,膠體系統穩定性就越差,因此通過測量和調整體系的Zeta電位,就可以控制膠體的穩定性。因此,Zetatronix 系列納米粒度及Zeta電位分析儀廣泛應用于產品開發、生產、質量控制以及科學研究。

技術類型

Zetatronix?939系列 查看詳情

采用多角度動態光散射技術,提供更高分辨率的粒度測量結果

Zetatronix?929系列 查看詳情

采用背向動態光散射技術,可以測量高濃度樣品的粒度

Zetatronix?919系列 查看詳情

采用經典動態光散射技術測量粒度

經典動態光散射(DLS)


背向動態光散射(BSDLS)


多角度動態光散射(MADLS)



測量角度

11°、90°、175°

11°、175°

11°、90°

測量類型




粒度

Zeta電位

分子量


溫度/時間趨勢


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納米粒度及Zeta電位分析儀

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