粉體行業在線展覽
納米粒度及Zeta電位分析儀
面議
澳譜特科技
納米粒度及Zeta電位分析儀
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Zetatronix 系列納米粒度及Zeta電位分析儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細小,其表面的晶體結構發生變化,從而在電學、光學和化學活性等方面表現出獨特的性能。粒徑大小是表征納米材料性能的重要參數,準確了解顆粒粒度是控制納米材料性能的關鍵。Zeta電位是表征膠體分散系穩定性的關鍵參數,Zeta電位越高,膠體系統就越穩定,反之,Zeta電位越低,膠體系統穩定性就越差,因此通過測量和調整體系的Zeta電位,就可以控制膠體的穩定性。因此,Zetatronix 系列納米粒度及Zeta電位分析儀廣泛應用于產品開發、生產、質量控制以及科學研究。
技術類型 | Zetatronix?939系列 查看詳情 采用多角度動態光散射技術,提供更高分辨率的粒度測量結果 | Zetatronix?929系列 查看詳情 采用背向動態光散射技術,可以測量高濃度樣品的粒度 | Zetatronix?919系列 查看詳情 采用經典動態光散射技術測量粒度 |
經典動態光散射(DLS) | √ | √ | |
背向動態光散射(BSDLS) | √ | √ | |
多角度動態光散射(MADLS) | √ | ||
測量角度 | 11°、90°、175° | 11°、175° | 11°、90° |
測量類型 | |||
粒度 | √ | √ | √ |
Zeta電位 | √ | √ | √ |
分子量 | √ | √ | |
溫度/時間趨勢 | √ | √ | √ |
Winner802
BeNano 90
Nicomp 380 Z3000
NS-90
Nanotrac wave II
JL-1198型
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