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Nicomp 3000 系列納米激光粒度儀 專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案

儀器型號：Z3000 Standard

工作原理：

粒度分布：動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）

ZETA電位：多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）

檢測范圍： 

粒徑范圍 0.3nm-10.0μm

ZETA電位 +/- 500mV

NicompZ3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號ZLS&S基礎(chǔ)上升級配套而來，采用動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，同機采用多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）檢測ZETA電位。粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm，ZETA電位檢測范圍為+/- 500mV。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯（ Gaussian）單峰算法和擁有**技術(shù)的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨特優(yōu)勢。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極，一個電極可以使用成千上萬次。另外，采用可變電場適應(yīng)不同的樣品檢測需求。既保證檢測精度，亦幫用戶大大節(jié)省檢測成本。

技術(shù)優(yōu)勢

1、APD&PMT雙檢測器；

2、多角度檢測（multi angle）模塊；

3、可搭配不同功率光源；

4、雙列直插式電極和樣品池，可反復(fù)使用成千上萬次；

5、鈀電極；

6、精確度高，*接近樣品真實值；

7、復(fù)合型算法：

 高斯（Gaussion）單峰算法與**的Nicomp多峰算法自由切換

 相位分析法（PALS)和頻譜分析法（FALS）自由切換

8、快速檢測，可以追溯歷史數(shù)據(jù)；

9、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn)；

10、符合USP,CP等個多藥典要求；

11、無需校準(zhǔn)；

12、復(fù)合型算法：

（1）高斯（Gaussion）單峰算法與**的Nicomp多峰算法自由切換

10、模塊化設(shè)計便于維護和升級；

（1）可自動稀釋模塊**；

（2）搭配多角度檢測器；

（3）自動進樣系統(tǒng)（選配）；

3000/MA多角度檢測器

粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。多角度檢測角器通過調(diào)節(jié)檢測角度來增加粒子對光的敏感性來測試某些特殊級別粒子。Nicomp 3000可以配備范圍在10°-175，步長0.7°的多角度測角器，從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品，通過調(diào)節(jié)角度進行檢測，改善對大粒子多分散系粒徑分析的精確度。