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ZEM-3 Series可同時測量熱電材料的塞貝克系數(shù)和電導(dǎo)率；該系列設(shè)備具備精度高，易于使用等特點；熱電材料塞貝克系數(shù)的測量方法是基于JIS標準。

應(yīng)用：

評估半導(dǎo)體、陶瓷、金屬等材料的熱電性能。

特點：

1. 使用高精度的紅外金面反射爐和微加熱器進行溫差控制；

2. 歐姆接觸V-I自檢系統(tǒng)；

3.測量由電腦控制，可以在指定的溫度和溫差系進行測量，并消除黑暗電動勢的影響。

設(shè)備型號：

測量實例 P型Si₈₀Ge₂₀ ：