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[系統(tǒng)簡介]

材料的基礎(chǔ)物性研究是產(chǎn)品產(chǎn)業(yè)化的根基，當(dāng)一種材料需要產(chǎn)業(yè)化的時候，我們必須盡可能大范圍地，高精度地掌握它的大部分特性，以免因為錯誤的數(shù)據(jù)而影響了后期產(chǎn)業(yè)化的方向，造成不必要的損失。

FCE系列是東陽特克尼卡株式會社獨自開發(fā)，面向各種鐵電，熱釋電及介電材料的評測系統(tǒng)。該系統(tǒng)采用了全新的VG架構(gòu)和QV/IV雙重傳感器設(shè)計，對于薄膜或納米粒子材料等微小電荷變化，它都能夠一一精準(zhǔn)地檢測出來。

目前該測試設(shè)備系列上市以來在日本國內(nèi)累計銷售二十余年總銷量近千套，并且獲得了日本眾多頂尖材料研究機構(gòu)的認(rèn)可。

[系統(tǒng)特征]

強大的軟硬件結(jié)合，**三角波頻率1MHz高速低噪聲測量系統(tǒng) – 高速款：~1MHz – 標(biāo)準(zhǔn)款：~10kHz – 基礎(chǔ)款：~1kHz

全面的測試功能 – 電滯回線測量 – 三角波雙脈沖測量 – 漏電流測量 – 疲勞測量 – 飽和特性測量 – 自動測量腳本 – PUND測量

通用外圍設(shè)備與功能 – 遠(yuǎn)程控制選項 – 遠(yuǎn)程控制溫度 – 電壓放大功能：±100V～±10kV – AFM/各種形變測量單元外接 – 電磁系統(tǒng)磁光克爾成像/多鐵性相關(guān)選項

VG架構(gòu)與QV/IV雙重傳感器設(shè)計 – 極低的底噪 – 同時搭載QV/IV傳感器，直接測量無須對Q-I進行有損轉(zhuǎn)換

[選配件]

AFM/各種形變測量單元外接

• 可搭配各種形變測量儀器對樣品壓電特性進行測量，d33等

電壓放大功能

• ±100V～±10kV，帶特殊保護裝置防止QV/IV探測器損壞。

電磁系統(tǒng)磁光克爾成像/多鐵性相關(guān)選項

• 通過施加磁場，對多鐵材料在磁場下的極化現(xiàn)象進行測量。

• 通過施加電場，對多鐵材料在電場下的磁化現(xiàn)象進行測量。

e31選配件

• 對薄膜型材料的e31進行測量