NanoEye

每一納米均納入計算

量程與分辨率的新的標桿

對于傳統(tǒng)的熱膨脹儀，測試量程與分辨率這兩個參數(shù)很難兩全：高分辨率只能在很小的量程中實現(xiàn)；如果要得到較大量程，只能犧牲一定的分辨率。

新型自反饋光電位移測量系統(tǒng) NanoEye 克服了這一技術上的矛盾，能夠同時提供高分辨率、線性度與無以匹敵的寬廣量程。

高靈活性與測樣效率

儀器為雙爐體結構，可同時安裝兩個不同的爐體，覆蓋從180℃到2000℃的寬廣的溫度范圍。另一配置方案是配備兩個相同的爐體交替使用，再結合雙桿樣品支架、在雙樣品模式下進行測試，可以大大地縮短測樣周期，提高儀器使用效率。

Expedis Select / Supreme 提供了眾多的配置選擇：單爐體 / 雙爐體，手動 / 馬達驅動的爐體操作，單 / 雙樣品支架，管狀 / 桿狀樣品支架，等等等等。豐富的配置是為了適應各類應用場合。

自動長度測試與 MultiTouch

傳統(tǒng)的熱膨脹儀通常使用卡尺進行樣品原始長度的測量，這可能加大測量結果的不確定性，特別對于柔軟的樣品。DIL 402 Expedis 可以在測試開始之前，在與測試本身等同的條件（頂桿接觸位置、接觸力）下自動測量樣品的初始長度。

對于可靠的熱膨脹測量，樣品在樣品支架內具有穩(wěn)定的置放位置相當關鍵。DIL 402 Expedis 的 MultiTouch 功能使用獨特的尾式頂樣操作，自動將樣品的置放位置調至合適。

DIL 402 Expedis 的熱電偶位置可以靈活調整，以適應不同的樣品長度。通過導向桿，可將熱電偶調整至與樣品長短相匹配的合適的位置，無需彎曲熱電偶。

支持 3 路外接氣體；可連接到逸出氣體分析

如果使用的是三路質量流量控制器（MFC，選件），氣體路徑在儀器內部是分開的：保護氣先經(jīng)過測量單元，然后進入樣品室，而吹掃氣（兩路）則直接進入樣品室，保護氣和吹掃氣都通過爐體的出氣口排出。

DIL 402 Expedis 儀器爐體為真空密閉設計，配備的 SiC 爐體非常適合通過毛細管與 QMS 或者 FTIR 進行聯(lián)用，在測試過程中對逸出的雜質、添加劑、有機粘合劑及分解產(chǎn)物進行深入研究分析。

寬廣的溫度范圍

我們提供兩種不同的石墨爐體，溫度分別為 2400°C 與 2800°C，提供了合適的配置以測量金屬、合金、陶瓷、復合材料等的熱膨脹，適用于如航空航天、新能源、石油/天然氣、或其他研究領域。

通過適配器，可將石墨爐體替換成標準爐體，例如 SiC，SiO2，Cu 或不銹鋼。也可以反過來配置：配備了標準爐體的 DIL 402 Expedis Supreme HT 的測量單元在后續(xù)也可改裝使用高溫爐體。

高溫計，可在**溫度下進行檢測

由于 W-Rh 熱電偶在 2000°C 以上可能跟石墨反應，DIL 402 Expedis Supreme HT 的樣品溫度是使用高性能的高溫計、以光學方式進行檢測的，可從室溫一直檢測到高溫度。

精心設計系統(tǒng)

儀器擁有精心設計系統(tǒng)，可以對流經(jīng)測量系統(tǒng)的冷卻水與吹掃氣流進行實時監(jiān)控。

可變的氣氛

DIL 402 Expedis Supreme HT 的爐體與樣品室之間以保護套管（玻璃碳或氧化鋁材質）進行隔離，因此可以對樣品、以及加熱元件使用不同的氣氛。在使用氧化鋁保護套管（高溫度：1680°C）的情況下，甚至可以為樣品使用空氣氣氛。

儀器可以配備 AutoVac 系統(tǒng)，對樣品室進行抽真空與充填，再加上內置的對高溫計窗口的吹掃功能，可以在氧化性與惰性氛圍間進行直接切換。