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超低雜散光智能光纖光譜儀Exemplar Plus LS

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必達泰克光電科技(上海)有限公司

美國

產品規格型號
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面議

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772

產品介紹

Exemplar Plus LS采用低雜散非交叉光路設計和高靈敏TE致冷背照式CCD陣列檢測器,是理想的高性能光譜測量產品。得益于寬動態范圍和低雜散光,使其更加適合透過與吸光度檢測。高靈敏度和優異的信噪比使其更加適合弱光信號的測量,是熒光光譜和拉曼光譜應用的選擇。

特點:

高紫外可見近紅外光譜響應

TE致冷,低可致冷至比室溫低25

峰值量子效率大于90%200nm處量子效率大于60%

超低雜散光,<0.02% @ 400 nm

光譜范圍180-1100nm,小光譜分辨率0.1nm

信噪比可至4800:1

應用:

吸收/透射光譜分析

熒光光譜/拉曼光譜應用

在線過程監控

生物醫學/農業食品

大氣水質分析

弱光信號光譜檢測

光譜范圍180-1100nm
光譜分辨率0.1nm
雜散光<0.02% @ 400 nm
信噪比4800:1
動態范圍50000:1
檢測器類型2048元背照式CCD檢測器@14um*900um
致冷溫度低于環境溫度25(默認0)
光譜儀F#3.0
光譜儀光路全息光路
電源輸入????5V DC@3.0 A
數字分辨率16-bit
讀出速度>400KHz
???????數據傳輸速度600MB/s(Max)
小積分時間/調節步長6ms/1us
Aux Port外觸發
觸發延遲95ns+/-20ns
操作溫度5-35
相對濕度85%,無冷凝
重量~1.2kg
尺寸??178*108*67mm
計算機接口USB 3.0/2.0
操作系統Win XP , Vista(32-bit) , Win 7 , Win 8

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超低雜散光智能光纖光譜儀Exemplar Plus LS

必達泰克光電科技(上海)有限公司

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