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J200 Femto iX LA 激光燒蝕（LA）該設備是ASI生產，美國勞倫斯伯克利國家實驗室的科研人員進行技術的研究，具有80多年LIBS技術的研究經驗，對于激光、光譜儀器、成像系統、計算及電子器

件具有豐富的經驗，發(fā)表學術論文300余篇，J200 Femto iX LA源自于應用光譜公司旗艦級LA飛秒J100系統，數字化質量流量控制器（MFC）和電子控制閥，用于氬氣、氦氣及補充氣體的輸送。

產品優(yōu)勢:

1、高分辨率的雙CMOS鏡頭，用于高倍放大和大視野預覽，支持光學變焦；

2、智能運輸氣體控制，自動調整樣品高度；

3、固態(tài)鋰離子電池裝置深度剖面的激光誘導擊穿光譜分析；

4、雙路數字流量控制器，可選第三個流量控制器（用于氮氣或其他氣體）；

5、數字化質量流量控制器和電子控制閥，用于氬氣、氦氣及補充氣體的輸送；

6、串聯LA-ICP-MS和LIBS分析的LIBS（激光誘導擊穿光譜）附加功能；

7、采用長激光脈沖的系統，會發(fā)生多種熱過程，改變剝蝕樣品的數量和化學成分，如改變熱特性等；

8、激光剝蝕進樣系統可以提供廣角視野和高倍成像，以精確地研究精細區(qū)域；

9、具有直觀友好的圖形用戶界面，可瀏覽不同樣品區(qū)域，并建立靈活的激光采樣方案；

10、系統軟件提供大的視頻窗口，顯示清晰的、詳細的樣品圖像；

11、緊湊的臺式設計，負擔得起的費用，維護成本低；

12、不論高度差異如何，在所有采樣點上提供相同的激光通量，并在所有采樣點上實現一致的激光剝蝕；

13、時間分辨ICP-MS信號也可以非常流暢，并且可以輕而易舉地獲得TRSD（時間相對標準偏差）統計學數值；

14、高精度，準確度和靈敏度，緊湊型高重復率飛秒激光器，高分辨率3D樣品臺。

應用須知：

1、使用J200 LA儀器實現超靈敏電感耦合等離子體質譜（LA-ICP-MS）分析：玻璃樣品研究。

2、Applied Spectra Inc.的J200 LA儀器與ICP-MS連接以建立品質因數。分析了NIST玻璃SRM（玻璃中的痕量元素）以確定可以檢測的質量并確定檢測限（LOD）。

J200 Femto iX LA 激光燒蝕（LA）進行有效的時間分辨ICP-MS信號處理，簡單的定量分析，核心是緊湊而堅固的激光源，J200 Femto iX具有硬核的硬件設計，包括智能運輸氣體控制，自動樣品高度調節(jié)，高分辨率3D樣品臺，創(chuàng)新的樣品池和LIBS（激光誘導擊穿光譜）附加功能，主體包括激光源、激光束傳輸光學器件、Flex樣品室、氣體流量控制系統以及LIBS檢測器。為了節(jié)省寶貴的實驗臺空間，激光電源模塊可以從主機中分離出來，放置在實驗臺下面。