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J200激光誘導擊穿光譜儀(LIBS)

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北京布拉德科技發展有限公司

美國

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產品介紹

J200激光誘導擊穿光譜儀(LIBS)可將大量的等離子光耦合到檢測器模塊,此功能可實現高的靈敏度性能,通過對各種材料的不同干擾進行廣泛測試的證明,ASI的化學計量軟件包為我們的客戶增加了另一層次的分析能力,固態鋰離子電池裝置深度剖面的激光誘導擊穿光譜分析(LIBS),使用J200 LIBS儀器快速監測原始鋰離子電池電極材料的成分,生產線操作員可以使用同一臺J200儀器簡單地運行準備好的測量配方以進行常規質量控制工作,或者實驗室科學家可以使用該J200儀器進行前沿的元素研究,該儀器還包括*適合客戶應用的光譜儀類型,可為每種分析情況提供且合適的解決方案。

設備優勢及特點:

1、J200 LIBS儀器對紅寶石-沸石中的寶石進行化學成像;

2、LIBS對of鉭礦的地球化學指紋圖譜;

3、LIBS對半導體引線框架上的薄焊料鍍層進行快速鉛(Pb)分析;

4、激光誘導擊穿光譜儀(LIBS)進行植物分析;

5、應用Spectra的J200 LIBS建立法證玻璃分析的信心;

6、激光誘導擊穿光譜法(LIBS)快速分析采礦樣品;

7、激光誘導擊穿光譜法(LIBS)進行氟分析;

8、LIBS用于土壤中的大量元素和微量元素分析。

J200激光誘導擊穿光譜儀(LIBS)專為處理痕量元素分析而設計-那些需要高靈敏度和準確性的分析,該儀器能夠監測具有分析意義的單個或多個元素,ASI專有的化學計量軟件利用一組高度復雜的統計算法為我們的LIBS儀器增加了材料鑒別能力,Axiom具有簡單直觀的圖形界面,允許多個用戶使用不同的訪問權限來操作儀器軟件,使用J200 LIBS儀器進行可重現的測量以實現可靠的質量控制。

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J200激光誘導擊穿光譜儀(LIBS)

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