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HORIBA發布Duetta新一代分子熒光光譜儀，吸收與熒光功能二合一，重新定義分子熒光系統。

針對熒光定量定性分析中內濾效應（IFE）的問題，**提出了A-TEEM技術，開發了獨有的同步吸收-熒光光學設計，消除IFE，擴展濃度的線性區間，特別適用于有顏色，高濃度樣品的分析；

在熒光指紋圖譜（EEM）分析中，CCD檢測器眨眼間（1s）獲得三維熒光光譜，避免樣品有位置變動（抖動或沉降）影響的光譜結果，并可經過IFE校正（利用吸收信號校正熒光信號）獲得更加準確的EEM圖譜；

超寬的CCD響應范圍，遠超常規PMT光譜儀的極限檢測范圍，實現一次采譜**獲得全譜范圍響應信號（~1100nm），無拼接，無切換，解決近紅外一區全譜測試，可進行全譜動態測試；

**EzSpec軟件，使得熒光光譜儀進入智能觸屏時代，擺脫鼠標鍵盤束縛；

智能樣品附件識別設計，支持熱插拔標準附件，無需軟件安裝；整機免維護，換燈免服務人員，輕松使用。