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儀器簡(jiǎn)介：

S1024DW大阱深探測(cè)器光譜儀采用1024像元光電二極管陣列探測(cè)器，用于需要高信噪比的測(cè)量。通過S1024DW可以觀察到小于0.00001個(gè)吸光度單位的變化，適合高亮度的應(yīng)用。

技術(shù)參數(shù)：

S1024DW系列探測(cè)器選項(xiàng)

特性 S1024DW

S1024DWX

探測(cè)器：Hamamatsu S3903 線陣二極管

Hamamatsu S3904線陣二極管

像元： 1024像元

1024像元

像元尺寸：25 µm x 500 µm

25 µm x 2500 µm

阱深： 31，000，000 electrons

156，000，000 electrons

信噪比（全掃描） 2500：1

8000：1

A/D精度: 12 bit

16 bit

暗噪聲： 2 RMS

2 RMS

校正后線性度： >99%

>99%

S1024DW系列探測(cè)器附件

型號(hào)描述

L2探測(cè)器聚光鏡:附著在探測(cè)器上的圓柱狀透鏡，用于增加光的采集效率。

OFLV-DW:可變長(zhǎng)通濾光片，在200-850 nm系統(tǒng)中消除高階效應(yīng)。

OFLV-350-DW:可變長(zhǎng)通濾光片，在350-1000 nm系統(tǒng)中消除高階效應(yīng)。

規(guī)格

尺寸：153.4 mm x 105.2 mm x 65.6 mm （采用 ADC1000-USB A/D轉(zhuǎn)換器）

消除高次衍射濾光片：

帶通和長(zhǎng)通濾光片

焦距：42 mm （入射）; 68 mm （出射）

功耗：180 mA @ 5 VDC （S1024DW & DWX主通道） 140 mA @ 5 VDC （S1024DW & DWX輔助通道）

光學(xué)分辨率: ~0.3-10.0 nm FWHM （取決于光柵和入射狹縫）

探測(cè)器：線性二極管陣列

雜散光: 600 nm時(shí) <0.05%； 435 nm時(shí) <0.10%

探測(cè)器范圍：200-1100 nm

相對(duì)靈敏度：和USB4000的CCD探測(cè)器相比，S1024DW 在紫外段約為1/30，可見段約為1/80

光柵：14種光柵; UV到NIR

入射孔徑：5， 10， 25， 50， 100 or 200 µm寬狹縫或光纖（無(wú)狹縫）

光纖連接：SMA905連接到0.22孔徑單芯光纖

積分時(shí)間：31ms到65s

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焦距：42 mm （入射）; 68 mm （出射）

功耗：180 mA @ 5 VDC （S1024DW & DWX主通道） 140 mA @ 5 VDC （S1024DW & DWX輔助通道）

光學(xué)分辨率：~0.3-10.0 nm FWHM （取決于光柵和入射狹縫）

探測(cè)器：線性二極管陣列

雜散光: 600 nm時(shí) <0.05%； 435 nm時(shí) <0.10%

探測(cè)器范圍：200-1100 nm

相對(duì)靈敏度：和USB4000的CCD探測(cè)器相比，S1024DW 在紫外段約為1/30，可見段約為1/80

光柵：

14種光柵; UV到NIR

入射孔徑：5， 10， 25， 50， 100 or 200 µm寬狹縫或光纖（無(wú)狹縫）

光纖連接：SMA905連接到0.22孔徑單芯光纖

積分時(shí)間：31ms到65s

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焦距：42 mm （入射）; 68 mm （出射）

功耗：180 mA @ 5 VDC （S1024DW & DWX主通道） 140 mA @ 5 VDC （S1024DW & DWX輔助通道）

光學(xué)分辨率：~0.3-10.0 nm FWHM （取決于光柵和入射狹縫）

探測(cè)器：線性二極管陣列

雜散光：600 nm時(shí) <0.05%； 435 nm時(shí) <0.10%

探測(cè)器范圍：200-1100 nm

相對(duì)靈敏度：和USB4000的CCD探測(cè)器相比，S1024DW 在紫外段約為1/30，可見段約為1/80

光柵：

14種光柵; UV到NIR

入射孔徑：5， 10， 25， 50， 100 or 200 µm寬狹縫或光纖（無(wú)狹縫）

光纖連接：SMA905連接到0.22孔徑單芯光纖

積分時(shí)間：31ms到65s

主要特點(diǎn)：

靈敏度高達(dá)0.00001個(gè)吸光度單位

S1024DW大阱深探測(cè)器光譜儀采用1024像元光電二極管陣列探測(cè)器，用于需要高信噪比的測(cè)量。通過S1024DW可以觀察到小于0.00001個(gè)吸光度單位的變化，適合高亮度的應(yīng)用。

“X"選項(xiàng)：超大阱深探測(cè)器

S1024DW是標(biāo)準(zhǔn)阱深光譜儀，其二極管陣列探測(cè)器的信噪比為2500：1。S1024DWX具有更大的阱深，信噪比為8000：1。

理想的高光強(qiáng)應(yīng)用光學(xué)平臺(tái)

S1024DW應(yīng)用“USB"（也稱作“S"）系列光譜平臺(tái)，可以根據(jù)具體不同的應(yīng)用來配置光學(xué)平臺(tái)。具體選項(xiàng)有入射孔徑、探測(cè)器附件、濾光片及光柵等等。S1024DW光學(xué)平臺(tái)的操作和USB4000光學(xué)平臺(tái)很相似。S1024DW光學(xué)平臺(tái)通過光纖采集光信號(hào)并色散到1024個(gè)高靈敏度光電二極管組成的陣列上，而在USB4000中采用的是3648像元的CCD陣列。

可集成的系統(tǒng)，適合多點(diǎn)采樣

在S1024DW光譜儀的主通道上可以附加多至7個(gè)輔助通道用以多點(diǎn)采樣，可以用來擴(kuò)展探測(cè)的波長(zhǎng)范圍或監(jiān)視參考光譜。所有通道都通過一個(gè)ADC1000-USB A/D轉(zhuǎn)換器進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，每個(gè)通道輪流工作，總共8個(gè)光譜儀通道的數(shù)據(jù)同時(shí)采集。ADC1000-USB轉(zhuǎn)換器通過USB接口連接S1024DW到PC。可以分開購(gòu)買S1024DW和ADC1000-USB，或同時(shí)作為一個(gè)整體（S1024DW-USB）購(gòu)買。