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JEOL JMS-S3000雷射輔助基質離子-螺旋飛行質譜儀

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先馳精密儀器(東莞)有限公司

日本

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1048

產品介紹

  • 為增強解析度讓飛行距離變的更長Spiral TOF 使用螺旋式設計在較小的空間下可以達到*長飛行距離從而可以分析到更高解析度分子量準確度也更高

    TOF-TOF(選配)-也可以加強解析度及準確度選擇二次串聯螺旋飛行質譜TOF-TOF 做結構分析雙重質譜MS/MS

    Linear TOF(選配)-可以做更高分子量如蛋白質

    螺旋飛行質譜儀使用特殊離子化方式MALDI 基質輔助雷射脫附法(Matrix Assisted Laser Desorption Ionization

    Spiral TOF-TOF特點

    1.高分子量, 高解度, 高準確度

    2.高精準選擇離子單一同位素分析

    ?長距離飛行解析度非常高

    ?由離子源到離子閘門距離15~17公尺

    3.消除PSD衍生離子

    4.高能量碰撞誘導解離-20 keV 實驗室瞬間碰撞能量HE-CID分離高活化能鍵結, 自然單一碰撞重復性高

    5. 一次觀察所有離子

    6. 可以測到 m/z幾乎大分子物質都可用Spiral Mass

    500,000,

    ?Linear TOF

    離子源與檢測器之間有 1.2 m是自由空間

    適合高分子量物質如蛋白質或高分子

    所有離子從加速後都被偵測

    可以測到m/z 500,000

    幾乎大分子物質都可用Spiral Mass

解析度

60,000 (ACTH fragment 1-17?M+H?+: m/z 2093.1)

質量解析度

(internal reference)

1 ppm (average error)

質量準確度

(external reference)

10 ppm (average error)

靈敏度

500 amol, S/N > 50

with standard stainless steel plate

雷射

Wavelength 349 nm (maximum 250 Hz)

應用領域

蛋白質

高分子合成

產品咨詢

JEOL JMS-S3000雷射輔助基質離子-螺旋飛行質譜儀

先馳精密儀器(東莞)有限公司

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