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JMS-T2000GC AccuTOF? GC-Alpha 高性能氣相色譜飛行時間質譜儀

JMS-T2000GC AccuTOF? GC-Alpha 高性能氣相色譜飛行時間質譜儀

直接聯系

捷歐路(北京)科貿有限公司

北京

產品規格型號
參考報價:

面議

品牌:

捷歐路

型號:

JMS-T2000GC AccuTOF? GC-Alpha 高性能氣相色譜飛行時間質譜儀

關注度:

693

產品介紹

AccuTOF? GC-Alpha 使用了兩項新的關鍵技術,在追求高性能的同時又保持易操作性。


   關鍵技術 1     新的高性能硬件                                                                                                                                    

JMS-T2000GC AccuTOF? GC-Alpha 是第六代 JEOL GC-TOFMS,具有改進的離子光學系統,可實現超高分辨率。

AccuTOF? GC-Alpha 是一款帶有雙級反射器的正交加速飛行時間質譜儀(oaTOFMS)。它采用了理想的離子光學系統,實現了高離子透射率(即靈敏度)和超高分辨率。




AccuTOF? GC-Alpha 的基本性能

高性能的定性和定量分析,同時達到四個“高”規格和兩個“寬”范圍。

JMS-T2000GC AccuTOF? GC-Alpha 是一種高性能 GC-MS 系統,可同時實現高質量分辨率、高質量精度、高靈敏度、高速數據采集、寬動態范圍和寬質量范圍。

高質量分辨率和高質量精度提供了****的定性分析結果;高速數據采集可用于先進的 GC-MS 測量,如全二維GC (GCxGC),而寬動態范圍不僅適用于定量分析,也適用于復雜混合物的定性分析;寬質量范圍在直接質譜測量中特別能發揮威力,并且高靈敏度可使其獲得****的有關痕量成分信息。

AccuTOF? GC-Alpha 是真正的高性能GC-MS 系統,消除了化學分析的局限性。


1.   高靈敏度  

具有超高靈敏度的標準 EI 離子源能夠進行微量體積定量分析。


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2.   儀器檢測極限:IDL=18.7 fg  

使用標準 EI 離子源對100 fg 八氟萘(OFN) 進行了八次連續測量。

根據分子離子提取離子色譜圖的峰面積和重現性,計算儀器檢測極限(IDL)。該系統的IDL 為18.7 fg。


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3.   寬動態范圍:4 位數  

使用標準EI 離子源測量濃度范圍為0.1 至1000 pg/uL(4 位數) 的 OFN,并證實其高度線性。寬動態范圍不僅可用于定量分析,而且可用于不同濃度的復雜混合物的定性分析。


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4.   高速數據采集:50 Hz  

對于 GCxGC 和 Fast GC 分析,色譜峰非常窄,因此需要支持高速數據采集的質譜儀。AccuTOF? GC-Alpha 與這些先進的色譜技術非常匹配,因為它每秒可以采集多達50 個光譜的數據。


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柴油的GCxGC/EI TICC


5.   寬質量范圍:?m/z 6,000  

飛行時間質譜儀的特點之一是能夠測量很寬的質量范圍。普通 GC-MS 儀器的上限通常為 m/z 1000 左右,而 AccuTOF? GC-Alpha 可以檢測 m/z 6000 或更高。這樣可以使用直接探針質譜法,如場解吸(FD)來測量低聚物等樣品。

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聚苯乙烯5200的FD質譜



6.   高質量分辨率:30,000  

高質量分辨率對于定性分析是必不可少的。質量分辨率越高質譜峰就會變得越窄,從而導致以下特征。

●  增加峰質心的穩定性 = 提高質量準確度


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7.   高質量精度:1 ppm*1  

高質量精度可以確定被觀察離子的元素組成。使用“漂移補償 - 多重”質量校準功能,從硬脂酸甲酯中觀察到的 10 個離子的平均質量精度(**值)為 0.05 mDa 或 0.45 ppm。



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多種軟電離提供了新的定性分析功能  

AccuTOF? GC-Alpha 提供多種電離方法,軟電離 - 強大的定性分析工具!


1.   EI法  

GC-MS 中使用非常廣泛的電離技術,具有出色的靈敏度和可重復性,并得到各種檢索數據庫的支持。

對于使用 GC-MS 獲取更多信息的科學家來說,重要的是分子離子檢測。 EI 使用 70 eV 的高電離能,產生大量碎片離子,從中獲得結構信息。 然而,EI 通常無法顯示出強的分子離子信號。 如果僅依靠數據庫搜索,定性分析結果可能是不正確的。

因此,在 GC-MS 分析中,除了 EI 法,還采用各種軟電離技術來提高定性分析的準確度是至關重要的。 AccuTOF? GC-Alpha 上可選擇提供化學電離 ( CI ),光電離 ( PI )和場電離 ( FI )。 利用所有電離技術的精確質量測量功能,可以可靠地測定分析物的元素組成。


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2.   FI 和 FD 法  - 測定分子量的理想軟電離技術  

FI 和 FD 是極軟的電離技術,為分析物提供比 EI 甚至 CI 更低的內部能量,從而產生清晰的分子離子。 因此,FI 和 FD 是分子量測定的理想選擇。

在 FI 和 FD 中,電離是通過高電場的作用從中性物質中去除電子而發生的。


◎ FI(場電離)

?  通過 GC 或標準樣品進樣口將樣品導入離子源。  

?  與 CI 不同,FI 不需要試劑氣體;無需選擇適合分析物的試劑氣體。

◎ FD(場解吸)

?  將樣品涂到發射體上并直接導入系統。

?  適用于分析熱不穩定化合物。

?  適用于可溶于非極性溶劑的樣品。  

?  能測試可以分散在溶劑中的粉末樣品。  

?  能測試低~中極性的金屬絡合物。

?  能分析一般GC-MS 無法測試的樣品,如聚合物、高分子材料等。


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◎  FI 和 FD ? EI/FI/FD 組合離子源(選配件)


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◎  PI(光電離)? EI/PI 組合離子源(選配件)

PI 是一種電離方法,它使用來自真空紫外燈 (VUV) 的光子進行電離。AccuTOF? GC-Alpha 具有可選的組合離子源,可同時提供EI(硬電離)和PI(軟電離)。通過簡單地開 / 關 EI 燈絲和 PI 燈,就可以在 EI 和 PI 之間切換。

特征是:? 無需更換離子源    ? 無需打破真空    ? 無需反應氣體






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PI 對于分析復雜混合物中的芳族化合物特別有用。因為這些化合物強烈吸收紫外線,所以在 PI 時產生高強度峰。



  關鍵技術 2     新一代分析軟件,操作簡單、快捷                                                

我們創建了一種新的工作流程,通過 GC-MS 鑒定未知化合物。 在該工作流程中,通過綜合硬電離(EI)獲得的數據和軟電離 ( FI,PI,CI ) 獲得的數據來進行數據分析,以鑒定樣品中存在的分析物。

自 2018 年推出以來,用于 AccuTOF? GC 系列的 msFineAnalysis 軟件作為一種全新概念的軟件解決方案已廣受好評,用于未知化合物的自動定性分析。該軟件充分利用了 AccuTOF? GC-Alpha 獲得的高質量數據,為未知化合物的定性分析提供了一種新方法。


1.    msFineAnalysis 升級到版本 3  

msFineAnalysis 版本 3 簡化了軟件操作,并增加了一個新功能,可以直接比較兩個相似的樣本并進行差異分析。msFineAnalysis 新的增強版本使操作者可以輕松地對未知化合物以及未在 EI 質譜庫中注冊的化合物進行定性分析。


msFineAnalysis 的功能:

?  結合EI / SI 數據進行自動定性分析

?  色譜峰反卷積

?  組分析法提取具有常見亞結構的化合物

?  差異分析可直接比較 2 個樣品

?  可單獨支持EI 數據分析

msFineAnalysis 提供快速有效的數據分析,使用戶可以花費更少的時間分析數據,而將更多的時間用于研究和創新!


2.    帶有Direct MS (直接質譜分析)的 AccuTOF? GC-Alpha  

直接 MS 模式可用于分析不適用于 GC 的高沸點和高質量數化合物。

TOFMS 固有的寬質量范圍與直接 MS 模式非常匹配。

用 GC 測量的化合物的分子量通常低于 500 Da ,因此使用 GC-MS 測量分子量超過 1000 Da 的化合物并不常見。但在直接 MS 模式下(不使用GC),樣品被直接引入離子源,因此可以測量高沸點、高分子量和非揮發性化合物。 AccuTOF? GC-Alpha 的質量范圍在 m/z 6,000 以上。  由于可以在比常規GC-MS更大的質量范圍內檢測化合物,所以該系統是*適合在直接MS模式下進行測量的裝置。



◎  三種直接 MS 探針可供選擇


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◎  用 FD 和 Kendrick 質量虧損(KMD)分析聚合物

FD 是一種電離方法,其中施加在發射器上的分析物分子被高電場解吸和電離。在測量過程中,流過發射器的電流逐漸增加,以加熱分析物幫助解吸和電離。由于電離的**發射極電流取決于分析物,因此組分可以在不同時間解吸。可以分離混合物中的成分,并且可以提取特定種類化合物的質譜。此外,即使化合物在解吸和電離過程中未及時分離,通過創建 KMD 圖仍可以清晰地分離目標組分。


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JMS-T2000GC AccuTOF? GC-Alpha 高性能氣相色譜飛行時間質譜儀

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