粉體行業在線展覽
Phenom Pro
面議
飛納
Phenom Pro
18740
顆粒統計分析測量系統
粉末冶金
第六代 Phenom Pro 放大倍數提升為 350,000 倍,分辨率優于 6 nm,30 秒快速得到表面細節豐富的高質量圖像,可用于測量亞微米或納米尺度的樣品;飛納高分辨率專業版 Phenom Pro 繼承了飛納電鏡系列高分辨率、15 秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、全自動操作、2-3 年更換燈絲及防震設計等優點。
飛納高分辨率專業版 Phenom Pro 可選配豐富的拓展功能選件,如 3D 粗糙度重建(3D Roughness Reconstruction)、纖維統計分析測量系統(FiberMetric)、孔徑統計分析測量系統(PoreMetric)、顆粒統計分析測量系統(ParticleMetric)、超大視野拼圖(Auto Image Mapping)、遠程操作等。軟件可以自動采集數據、處理圖片。比如,纖維統計測量系統可以自動識別、測量纖維樣品,而大視野拼圖 則自動采集生成高分辨、大視野的樣品全景照片,等等…
除此之外,還有各種各樣的樣品杯可供選擇,這些樣品杯使得樣品的裝載更加便利。無論是對于長軸狀樣品,還是生物材料,或者其它種類的材料,總有一款合適的樣品杯可以提供**的解決方案。
Phenom Pro 主要技術參數
光學放大 | 20 - 135 X |
電子放大 | 350,000 X |
分辨率 | 優于 6 nm |
光學導航相機 | 彩色 |
加速電壓 | 4.8 kV - 20.5 kV 連續可調 |
探測器 | BSD, SED (可選), EDS |
顆粒統計分析測量系統
顆粒統計分析測量系統軟件可以輕松獲取、分析圖片,并生成報告。借助該軟件,用戶可以收集到大量亞微米顆粒的形貌和粒徑數據。憑借遠超光鏡的放大倍數,顆粒軟件全自動化的測量,可以把工業粉末的設計、研發和品管提升到一個新臺階。
借助顆粒系統軟件,用戶可隨時獲得數據。因此,它加快了分析速度,并提高了產品質量。
臺式掃描電鏡在粉末冶金領域的應用
1. 粉體形貌、粒度觀察(<10000×,低壓 SED)
2. 粉體粒度統計(使用飛納電鏡軟件-顆粒統計分析測量系統)
3. 燒結件缺陷檢查(使用飛納電鏡軟件-超大視野自動全景拼圖)
4. 成品表面質量檢查+雜質判定(掃描電鏡+能譜)
5. 脫脂前后形貌觀察
Pharos-STEM
Phenom Pharos
Neoscan N90
Phenom XL
Phenom Pro
ParticleMetric
ParticleX
VSP-G1
N80
N70
N60
TEM 熱、電、氣、液、冷凍樣品桿
場發射掃描電鏡 SEM5000
ZEM系列臺式掃描電鏡-原位拉伸一體機
Quattro-
Pharos-STEM
INNO-SCAN 3D掃描儀
KYKY-EM8100
Hitachi FlexSEM 1000
EM-30+
Veritas
Transcend II
略
美國Fauske 快速掃描絕熱量熱儀-ARSST