粉體行業在線展覽
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TH-P4
直接聯系
拓赫機電科技（上海） 有限公司
上海
面議
TH-P4
1529
上海拓赫紫外/可見分光光度計TH-P4
一、基本介紹
紫外/可見分光光度計是基于紫外可見分光光度法原理，利用物質分子對紫外可見光譜區的輻射吸收來進行分析的一種分析儀器。主要由光源、單色器、吸收池、檢測器和信號處理器等部件組成。光源的功能是提供足夠強度的、穩定的連續光譜。
二、產品特點
1、采用5寸真彩觸摸屏，操作更方便
2、光度測量（多波長測試)：定波長下測試樣品的吸光度、透過率和能量，同時測多個任意波長下的結果
3、定量測量 ：單或多波長法建立標準曲線
4、時間掃描（動力學）：測變化圖譜，計算反應率
三、應用領域
廣泛應用于飼料、食品、植物生化、教學和日常分析等需求。
四、技術參數
型號 | TH-PV1 | TH-PV2 | TH-PV3 | TH-PV4 | TH-P1 | TH-P2 | TH-P3 | TH-P4 | ||||||
光源 | 鎢燈 | 鎢燈，氘燈 | ||||||||||||
光譜帶寬 | 4nm | 4nm | 4nm | 2nm | 4nm | 4nm | 4nm | 2nm | ||||||
波長范圍 | 320nm-1050nm | 320nm-1100nm | 195nm-1050nm | 190nm-1100nm | ||||||||||
光學系統 | 準雙光束光路，全息衍射光柵 | |||||||||||||
波長準確度 | ±1.5nm | ±1nm | ±0.5nm | ±1.5nm | ±1nm | ±0.5nm | ||||||||
波長重復性 | ≤0.4nm | ≤0.2nm | ≤0.4nm | ≤0.2nm | ||||||||||
波長設定 | 自動設定波長，波長分辨率0.1nm | |||||||||||||
光度范圍 | -0.602-4.0A 0-400%T | |||||||||||||
光度準確度 | ±0.002A (0-0.5A), ±0.004A (0.5-1A), ±0.3%T (百分之0-100T) | |||||||||||||
光度重復性 | ≤0.001A (0-0.5A), ≤0.002A (0.5-1A), ≤0.1%T (百分之0-100T) | |||||||||||||
雜光 | ≤0.1%T (220/360nm) | ≤0.05%T (220/360nm) | ≤0.1%T (220/360nm) | ≤0.05%T (220/360nm) | ||||||||||
基線漂移(穩定性) | ≤0.001A/h (500nm,0A) | |||||||||||||
檢測器 | 雙檢測器 | |||||||||||||
顯示屏 | 480*272,5寸彩色觸摸屏 | |||||||||||||
打印輸出 | 微型打印機；PC打印機(聯機用) | |||||||||||||
電源 | DC24V | |||||||||||||
光度測量 | t | t | t | t | t | t | t | t | ||||||
多波長測試 | y | t | t | t | y | t | t | t | ||||||
定量測量 | y | t | t | t | y | t | t | t | ||||||
時間掃描（動力學） | y | y | t | t | y | y | t | t | ||||||
外形尺寸 | 345x345x150mm | |||||||||||||
重量 | 10Kg | |||||||||||||
M-560/565
納米砂磨機
FRINGE
紅外熱循環試驗機 LFT1200C 300D50RTP
LS2L-20L
EXPEC 6500 D、R、H型 EXPEC 6100 D、R型
Abbemat 3000,3100,3200
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