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日本理學 XRD 智能 X 射線多晶衍射儀 SmartLab

智能 X 射線衍射儀 SmartLab 系列，是當今世界性能的多功能的 X 射線衍射儀，它采用了理學**的 CBO 交叉光學系統、自動識別所有光學組件、樣品臺、智能的測量分析軟件 SmartLab Guidance，一臺儀器可以智能進行普通粉末樣品、液體樣品、納米材料、藥品、半導體、薄膜樣品測試。

日本理學智能 X 射線多晶衍射儀 SmartLab 技術參數

• 1、X 射線發生器功率為 3KW、新型 9KW 轉靶

• 2、測角儀為水平測角儀

• 3、測角儀*小步進為 1/10000 度，精度測角儀（雙光學編碼、直接軸上定位）（理學**）

• 4、測角儀配程序式可變狹縫

• 5、自動識別所有光學組件、樣品臺（理學**）

• 6、CBO 交叉光路，提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路（帶 Mirror）（理學**）

• 7、小角散射測試組件(SAXS / Ultra SAXS)

• 8、多用途薄膜測試組件

• 9、微區測試組件、CBO-F 微區光學組件

• 10、In-Plane 測試組件（理學獨有）

• 11、入射端 Ka1 光學組件

• 12、高速探測器 D/teX-Ultra（能量分辨率 20%以下）

• 13、二維面探 PILATUS 100K/R(用于同步輻射環的探測器，可以接收直射 X 射線)

• 14、智能的測量分析軟件 SmartLab Guidance（**）

•日本理學智能 X 射線多晶衍射儀 SmartLab 主要特點智能 X 射線衍射儀 SmartLab 系列，可以廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域。

可以分析的材料包括：金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料

可以分析的材料狀態包括：粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區微量樣品

主要的應用有：

1. 粉末樣品的物相定性與定量分析

2. 計算結晶化度、晶粒大小

3. 確定晶系、晶粒大小與畸變

4. Rietveld 定量分析

5. 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度

6. In-Plane 裝置可以同時測量樣品垂直方向的結構及樣品深度方向的結構

7. 小角散射與納米材料粒徑分布

8. 微區樣品的分析