粉體行業在線展覽
面議
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一、主要特點
(1)、可對F(9)-Fm(100)(次ppm~100%)進行無損定性、定量分析;
(2)、6款管濾光片,更快更精確的測定微量及痕量元素;
(3)、可配置硅漂移探測器SDD (分辨率為129eV),適于高和低原子序數的元素分析檢測;
(4)、外型堅固耐用,適于移動實驗室,符合沖擊試驗MIL810E規格;
(5)、配備集成電腦、專業nEXt™分析軟件,操作方便;
二、主要技術參數
系統規格 | PD 版本 | SDD 版本 |
測量范圍 | Na(11) - Fm(100) | F(9) - Fm(100) |
測量濃度 | ppm -100% | 次 ppm -100% |
X-射線管靶材 | Rh靶 (Ag/Mo/W/Pd靶) | |
X-射線管電壓/功率 | 35 kV, 9W | 40 kV, 18 W |
激發類型 | 直接激發,管濾光片 | |
探測器 | 電制冷PIN二極管 | 硅漂移探測器SDD |
分辨率(FWHM) | 155 eV ± 10 eV | 129 eV ± 5eV |
自動進樣器 | 8位 | |
工作環境 | 空氣/真空/氦氣 | |
管濾光片 | 6款軟件可選 | |
操作軟件 | nEXt™分析包(包含基礎基本參數法),Microsoft Windows™ OS操作系統。 | |
報告 | 用戶自定義數據打印輸出 | |
選配件 | 16位自動進樣器、專業基本參數法、氦氣凈化器、CCD攝像頭等 |
三、應用領域
石油化工、冶金/合金樣品
環境、石油/燃料/柴油等、醫藥生物化學等
礦產地質(含稀土元素)、貴金屬檢測、法鑒
Revontium
Lattice 系列 高功率X射線
N80
VANTA
ScopeX PILOT
逸出功能譜儀
SAXSpoint 700
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
NAOMi-CT 3D-M