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CMOS平板探測器

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先鋒科技(香港)股份有限公司

美國

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1209

產(chǎn)品介紹

CMOS X射線相機由單個半導體硅片制成,可直接探測可見光或配合閃爍晶體用于探測X光和其它高能輻射。針對不同應用,可配備不同厚度Gadox或針狀CsI閃爍體,是醫(yī)學診斷,工業(yè)檢測,科學成像的理想解決方案,標準能量測試范圍為不超過220KV,根據(jù)客戶要求,能量可到400KV,采用Camera Link接口,全分辨率下**可到65幀/秒

有效面積(mm)114.9x64.6
分辨率1536x864
像素尺寸(μm)74.8/149.6/299.2;依賴于不同的binning
MTF@6lp/mm大于20%;(150μm HR CsI without binning)
DQE~0.7 at 0.5lp/mm (28 kV, W / Al)
Binning1 x 1, 1 x 2, 2 x 2, 1 x 4, 2 x 4, 4 x 4
工作模式提供低噪聲及高動態(tài)范圍兩種
動態(tài)范圍6400-2400;依賴于不同的工作模式及binning
幀速32-191;依賴于不同的binning及數(shù)據(jù)接口
ADC分辨率14位
計算機接口Camera Link或千兆以太網(wǎng)
外形尺寸(mm)241 x 150 x 42
重量(kg)1.9

產(chǎn)品咨詢

CMOS平板探測器

先鋒科技(香港)股份有限公司

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