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F20薄膜厚度測量儀

測量厚度從1nm到10mm的先進膜厚測量系統

不論您是想要知道薄膜厚度、光學常熟，還是想要知道材料的反射率和透過率，F20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設備就可以在數秒內得到測量結果。基于某模塊化設計的特點，F20適用于各種應用：

• 測量厚度、折射率、反射率和穿透率：

- 單層膜或多層膜疊加

- 單一膜層

- 液態膜或空氣層

• 不同條件下的測量，包括：

- 在平面或彎曲表面

- 光斑*小可達20微米

- 桌面式、XY坐標自動化膜厚測量，或在線配置

所有的這些功能都伴隨著直觀的軟件界面以及我們即時的電話和互聯網支持（24小時/每周5工作日）。這就是Filmetrics的優勢！歡迎您試一試！

膜層范例

基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數的薄膜都可以測量。

這包括幾乎所有的電介質與半導體材料，例如：

厚度測量范圍

測量原理為何？

軟件功能以使用者為導向

其他的選用配件

選擇Filmetrics的優勢

• 桌面式薄膜厚度測量的全球**者

• 24小時電話，E-mail和在線支持

• 所有系統皆使用直觀的標準分析軟件

附 加 特 性

• 嵌入式在線診斷方式

• 免費離線分析軟件

• 精細的歷史數據功能，幫助用戶有效地存儲，重現與繪制測試結果

應用

半導體膜層 液晶顯示器

•光刻膠• OLED

•加工膜層•玻璃厚度

•介電層• ITO和TCOs

光學鍍層生物醫學

•硬涂層•聚對二甲苯

•抗反射層•醫療器械