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WLI Infra干涉儀

德國BMT WLI Infra干涉儀是用于硅薄膜的厚度測(cè)量設(shè)備。儀器適用于實(shí)驗(yàn)室、車間和生產(chǎn)線上的質(zhì)量管理。測(cè)量頭提供**的重復(fù)性，設(shè)計(jì)堅(jiān)固緊湊、免維護(hù)，適用于在線測(cè)量。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

MEMS、硅梁、透明薄材料的非接觸高精度厚度測(cè)量；

納米級(jí)分辨率；

手動(dòng)或自動(dòng)測(cè)量步驟設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)單易用；

不受溫度變化和熱效應(yīng)的影響；

**的重復(fù)性；

可配備表面輪廓測(cè)量。

技術(shù)參數(shù)：

厚度分辨率（nm） <1

探針大小 （μm） 約150（可定制）

厚度范圍 （μm） 0.1-600

儀器尺寸 （mm） 320x320x380

重量 （kg） 120

晶圓夾具 定制，可達(dá)30cm

全自動(dòng)測(cè)量

標(biāo)準(zhǔn)或定制的軟件包