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博曼X射線膜厚測試儀分析:

元素范圍:鋁13到鈾92。
x射線激發能量:50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管
探測器:SDD
測量的分析層和元素:5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達25元素
過濾器/準直器:4個初級濾波器,4個電動準直器(0.1 0.2 0.3 1.5mm)
聚焦:多固定聚焦與激光系統
數字脈沖處理:4096 多通道數字分析器與自動信號處理,包括X射線時間修正和防X射線積累
電腦:英特爾酷睿i5 3470處理器(3.2 ghz),8 gb DDR3內存,微軟Windows 7專業64位等效
鏡頭:1/4 " cmos - 1280 x720 VGA分辨率
電源:150 w、100 ~ 240伏,頻率范圍47赫茲到63赫茲
工作環境:50°F(10°C)到104°F(40°C)小于98% RH,無冷凝水
重量:32公斤
內部尺寸:高:140毫米(5.5“),寬:310毫米(12),深:210毫米(8.3”)  140*310mm
外形尺寸:高:450毫米(18英寸),寬:450毫米(18),深:600毫米(24) 450*450mm
博曼X射線膜厚測試儀主要用于鍍層或涂層厚度的測量,而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量。博曼PCB板臺式膜厚測試儀采用真正的基本參數原理(FP)來測量厚度.