· 可實現從器件到光學鏈路全范圍的精確插損、回損、長度測量
· 長度測量范圍為10m，精度可達毫米量級，空間分辨率為20μm
· 非常適用于定量分析，品質監測及故障診斷
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OCI-T光學故障測量儀具有功能齊全、性價比高等特點，可實現從器件到光學鏈路全范圍的精確插損、回損、長度測量。長度測量范圍為10m，精度可達毫米量級，空間分辨率為20μm。非常適用于定量分析，品質監測及故障診斷。
· 可實現從器件到光學鏈路全范圍的精確插損、回損、長度測量 · 長度測量范圍為10m，精度可達毫米量級，空間分辨率為20μm · 非常適用于定量分析，品質監測及故障診斷
· 無源器件測量 · 光學鏈路測量
類別 指標 單位 長度測量 測量范圍 10 20 m 空間分辨率 20 μm 回損測量 回損動態范圍 65 dB 回損靈敏度 -130 dB 回損測量精度 ±0.5 dB 插損測量 插損動態范圍 15 dB 插損測量精度 ±0.5 dB 光譜范圍 波段 C band - 測量時間 單次測量時間 0.2 s 硬件信息 輸入電壓 AC 220/110V；DC 12V - 通訊接口 USB - 光纖接口 FC/APC - 尺寸 390 x 340 x 158 mm 重量 7.5 kg
電腦組合體系VG42
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