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波前分析儀CLAS-2D

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先鋒科技(香港)股份有限公司

美國

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1341

產品介紹

美國LUMETRICS公司自主研發的CLAS-2DTM系列波前分析儀(CLAS-2D™ , CLAS-XP™, CLAS-HP™, CLAS- NearIR-320™, CLAS-NearIR-640™)能夠快速、簡單、準確的測量激光光束的波前相位參數,例如波前傾斜,峰谷誤差,均方根波前誤差,像散,球差,聚焦誤差/準直。

LUMETRICS公司的波前分析儀是集四波橫向剪切干涉儀,光束質量分析儀,自準直儀和四象限探測器為一體的快速、緊湊型波前分析儀器。運用獨特的算法能夠精確測量三個波段的波前參數:300nm -1100 nm, 1100nm - 1700nm8 um- 9.2 um

另外美國LUMETRICS波前傳感器生產廠家具有雄厚的技術研發實力,能為客戶提供的各種自適應光學系統OA-SYS(Adaptive Optics Loops),制定個性化解決方案。可根據客戶的應用需求,為客戶推薦*合適的波前傳感器、可變形鏡或空間光調制器、自適應光學系統操作軟件等。

波前分析儀產品特點:

CLAS-2DTM系列波前分析儀具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態檢測范圍、操作簡便等獨特的優勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析,眼科虹膜定位波前像差引導等提供了全新的解決方案!LUMETRICS波前探測器配套的軟件界面友好,可直觀的輸出高分辨率相位圖和光束強度分布圖。

波前分析儀應用范圍

?激光、天文、顯微、眼科等復雜自適應光學系統波前像差檢測

?激光光束性能、波前像差、M2、強度等的檢測

?紅外、近紅外探測

?平行光管/望遠鏡系統的檢測與裝調

?衛星遙感成像、生物成像、熱成像領域

?球面、非球面光學元器件檢測(平面球面透鏡)

?虹膜定位像差引導

?大口徑高精度光學元器件檢測

?激光通信領域

?航空航天領域

CLAS-2DTM產品型號匯總

COMPLETE CLAS-XP System

型號

81000-

00

81000-

46

81000-

47

81000-

48

81000-

49

81000-

50

焦距(mm

2.0

2.047

4.75

8.19

15.48

25.08

靈敏度

λ/30

λ/30

λ/50

λ/100

λ/150

λ/200

動態范圍

120λ

120λ

80λ

60λ

40λ

30λ

透鏡尺寸mm

0.072

0.072

0.108

0.144

0.198

0.252

透鏡陣列

102*102

102*102

68*68

51*51

37*37

29*29

COMPLETE CLAS-HP System

型號

81000-

20

81000-

21

81000-

23

81000-

24

焦距(mm

4.98

7.78

19.92

29.62

靈敏度

λ/100

λ/150

λ/200

λ/250

動態范圍

211λ

169λ

105λ

115λ

透鏡尺寸mm

0.112

0.140

0.224

0.280

透鏡陣列

128*128

102*102

64*64

51*51

COMPLETE CLAS-Near IR 320 System

型號

81000-

32

81000-

33

81000-

34

81000-

35

81000-

36

81000-

27

焦距(mm

25.69

36.99

11.44

17.87

25.74

9.3

靈敏度

λ/83

λ/100

λ/46

λ/58

λ/70

λ/50

動態范圍

44λ

37λ

78λ

63λ

53λ

55λ

透鏡尺寸mm

0.400

0.480

0.320

0.400

0.480

0.225

透鏡陣列

24*19

20*16

30*24

24*19

20*16

71*56

產品咨詢

波前分析儀CLAS-2D

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