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產品詳情 Product Information

由于手持式激光掃描儀ZEISS T-SCAN CS的應用，使得快速、直觀和高度精確的3D掃描在坐標測量技術中進入全新的高度。全面革新且一體化的設計理念，包括**匹配的輔助裝置（跟蹤儀、手持式掃描儀和接觸式測頭），為種類繁多的應用提供了**的靈活性。高性能的軟件平臺colin3D能夠在整個測量過程中，始終如一地保持高效并始終堅持以項目為導向的操作過程。

面向用戶的、人性化的系統設計和易于操作的高效數據采集

ZEISS T-SCAN激光掃描儀的設計完全符合人體工學原理?？筛鶕僮髡叩男枨罅可矶ㄖ?，保證了掃描過程直觀、無疲勞感。由于配備了重量輕、結構緊湊的測頭，該系統非常適合于數據捕獲，即使*難以到達的區域也不例外。

優秀的技術特性，例如，針對各種對象的表面進行高動態范圍內的數據采集，而其所具有的迄今不可見的數據速率可以達到無可比擬的掃描速度并得到精確的測量結果。

手持式測頭進行快速點測量

ZEISS T-POINT接觸測頭快速可靠地測量所選擇的測量點，使其成為在物體區域內進行單點測量的**解決方案，如（修剪）邊緣和規則的幾何形狀。該裝置可與傳統的測頭一起使用，測頭更換更加簡單、快速。

動態參考

即使在移動的物體上也能得到高精密的三維數據記錄，通過采用動態參考功能，在惡劣的環境條件下可以獨立執行測量工作，如振動（生產環境中，例如沖壓車間或

加工部件：對移動車門的密封進行測量）。

通用軟件接口

從數據采集到數據處理，至數據比較 - ZEISS T-SCAN系統可以通過眾多直接的實時接口進行控制。因此，可以輕松集成到現有的工藝流程中。

用于不同的測量體積的光學跟蹤系統

從小型到大型的物體 - 系統配置“CS+”和“LV”，為您的個人測量應用提供理想解決方案。

ZEISS T- TRACK CS+“plus”體現的靈活性、ZEISS T-TRACK LV大范圍跟蹤儀

ZEISS T-TRACK CS +光學跟蹤系統與所有其他系統組件進行優化匹配，因此開辟了廣泛的測量應用領域。

極高的數據處理速率使測量具有**的速度，有利于**限度地減少物體掃描過程的時間。

通過采用創新型掃描和跟蹤相結合的獨特大范圍測量，您將在光學三維數字化中獲得全新的視角。

現在您可以更快、更容易地記錄大型物體的3D數據-手持式激光掃描儀的高掃描速度和高達35立方米的跟蹤范圍，為您進行有效的測量處理提供**可能的運動自由。

主要技術參數