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深紫外光學(xué)吸收測(cè)量?jī)x
面議
知常光電
深紫外光學(xué)吸收測(cè)量?jī)x
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深紫外光學(xué)吸收測(cè)量?jī)x(PTS-DUV-2000/PTB-DUV-2000),是一款基于激光誘導(dǎo)光熱檢測(cè)技術(shù),專為深紫外波段光學(xué)材料和元件吸收特性檢測(cè)分析而開發(fā)的高靈敏度精密光學(xué)測(cè)試儀器。
PTS-DUV-2000適用于各類深紫外波段光學(xué)薄膜和光學(xué)材料表面吸收特性的檢測(cè)和分析,包括表面吸收率測(cè)量、表面吸收均勻性分布測(cè)試、吸收缺陷檢測(cè)分析、激光輻照下的吸收穩(wěn)定性監(jiān)測(cè)等。
PTB-DUV-2000適用于各類深紫外波段光學(xué)元器件及材料體內(nèi)吸收特性的檢測(cè)和分析,包括材料體吸收系數(shù)測(cè)量、體內(nèi)吸收均勻性分布測(cè)試、體吸收缺陷檢測(cè)分析等。
典型的應(yīng)用對(duì)象為:光學(xué)薄膜、光學(xué)玻璃、晶體材料、光學(xué)陶瓷、半導(dǎo)體晶圓。
深紫外光學(xué)吸收測(cè)量?jī)x | ||
型號(hào) | PTS-DUV-2000 | PTB-DUV-2000 |
檢測(cè)功能 | 表面吸收 | 表面吸收、體吸收 |
檢測(cè)模式 | 反射式、透射式 | 反射式、透射式 |
**吸收檢測(cè)靈敏度 | ≤0.1ppm | |
檢測(cè)波長(zhǎng) | 266nm或其他深紫外定制波長(zhǎng) | |
**掃描空間分辨率 | ≤1μm |
激光量熱吸收測(cè)量?jī)x
深紫外光學(xué)吸收測(cè)量?jī)x
光學(xué)元件激光損傷檢測(cè)及預(yù)處理設(shè)備
大口徑元件高透/反射率測(cè)量?jī)x
光學(xué)吸收測(cè)量?jī)x(簡(jiǎn)化版)
大口徑元件缺陷多模態(tài)檢測(cè)儀
光學(xué)吸收測(cè)量?jī)x(標(biāo)準(zhǔn)版)
大口徑元件散射缺陷檢測(cè)儀
激光共聚焦顯微鏡
大口徑元件吸收缺陷檢測(cè)儀
光學(xué)透反射率測(cè)量?jī)x
亞表面缺陷檢測(cè)儀
電腦組合體系VG42
UNI800C多物料配料控制儀
在線HPXRF檢測(cè)設(shè)備
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng)
金屬稱重檢測(cè)一體機(jī)
BSD-PB(氣液法)
片式電容四參數(shù)測(cè)試機(jī)
0~10%糖度
三路浮子流量計(jì) MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測(cè)儀
GJT-2F系列金屬探測(cè)儀