粉體行業在線展覽
CSU030D 切磨片宏觀缺陷檢測設備
面議
中科慧遠
CSU030D 切磨片宏觀缺陷檢測設備
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CSU030D 切磨片宏觀缺陷檢測設備
CSU030D設備為中科慧遠針對以SiC為代表的化合物半導體晶片加工過程中外觀類缺陷進行宏觀檢測的缺陷檢測設備。
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