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【對應測試】 R-T I-V 阻抗 霍爾效應※

實現 高輸出量?低運行成本 樣品測試

• 從室溫到6K※以下，簡單的測試樣品的電特性 （**配備可于30分鐘內將樣品冷卻）

• 計算器自動程控

• 多端子樣品架與掃描儀可同時測試復數樣品 （24端子設備. *多可測5個樣品）

• 氣體對流冷卻法可讓大體積樣品整體平均的冷卻

• 無冷卻劑的冷卻系統（降低運行成本）

• 依據電磁鐵施加磁場※

※霍爾效應測試需要電磁鐵（電磁鐵為選配）

※到達的溫度可依據選配達到4K