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場發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡

直接聯(lián)系

北京石墨烯研究院有限公司

北京

產(chǎn)品規(guī)格型號

參考報價：

面議

品牌：

石墨烯研究院

型號：

場發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡

關(guān)注度：

817

產(chǎn)品介紹

型號：美國FEI Quattro S

功能：用于材料表面、斷面形貌觀察，微區(qū)成分定性定量分析。

技術(shù)參數(shù)：

﹡分辨率：1.0nm（30KV, SE）

﹡附件：X射線能譜儀（EDS）、電子背散射衍射儀（EBSD）

﹡放大倍數(shù)：300萬倍

產(chǎn)品咨詢

場發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡

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