粉體行業在線展覽
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希仕代儀器貿易（上海）有限公司
德國
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585
SRG-4000 易拉蓋刻線殘余量測定儀
刻痕是易拉蓋的重要部份， 刻線殘留量太厚， 開罐時拉環容易斷，殘留量太小， 密封不安全， 出現意外被裂甚至泄漏。至今為止，采用景深顯微鏡的系統取決于操作人員的技術程度， 它們用一個
外加的顯示屏和測微計對刻線槽進行聚焦。由于不同的操作人員會對刻線不同地方聚焦，從而使得測量結果可重復性差， 通常會有明顯的誤差。
QBYV的易拉蓋刻線檢測儀， 采用創新的方法， 結合切邊光學、激光技術及先進的軟件處理， 減少測量過程中人為的影晌。該系統有效地改進了檢測結果的可重復性， 系統直接與電腦聯接，不需要任何外圍設備如解碼器、外設顯示屏， 因而大大減少了成本和維修費用。
優勢
● 采用激光聚焦技術
● 適用全部易拉蓋型
● 可測量易拉蓋的鉚釘直徑和厚度
應用
● 飲料易拉蓋刻痕殘余尺寸測量
● 食品易拉蓋刻痕殘余尺寸測量
技術參數
電源：100-240VAC 50-60Hz | 精度：±0.001 mm |
分辨率：0.001mm | 重復性：0.001 mm |
