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Particle系列單顆粒力學(xué)測(cè)試儀

HiCY單顆粒力學(xué)測(cè)試儀，是一款基于納米移動(dòng)平臺(tái)及新型多探針測(cè)量原理、采用一站式單顆粒力學(xué)及電阻分析系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)單顆粒力學(xué)特性及單顆粒電阻特性一站式分析檢測(cè)的儀器。

致力于解決傳統(tǒng)設(shè)備精度不足、成本高昂及進(jìn)口依賴等問(wèn)題,實(shí)現(xiàn)單顆粒力學(xué)性能（如抗壓性、反彈性）與電阻特性的一站式高精度檢測(cè)。

應(yīng)用領(lǐng)域

· 單顆粒力學(xué)特性分析檢測(cè)

       正/負(fù)極材料研發(fā),指導(dǎo)輥壓壓力、速度等參數(shù)設(shè)定提升極片均勻性

· 單顆粒電阻特性分析檢測(cè)

       篩選高電導(dǎo)顆粒

       通過(guò)電導(dǎo)性數(shù)據(jù)指導(dǎo)電極配方設(shè)計(jì)

性能參數(shù)：

背景

· 單顆粒力學(xué)與電子傳輸性能是提升電池性能的核心要素，單顆粒抗壓強(qiáng)度直接影響粉末壓實(shí)密度及極片輥壓工藝優(yōu)化；單顆粒電子電導(dǎo)率則通過(guò)降低內(nèi)阻、增強(qiáng)充放電倍率性能及抑制循環(huán)中接觸電阻劣化，保障電極高效電子傳輸。

測(cè)試原理

· 測(cè)試方法：微球顆粒使用溶劑散開(kāi)后放置在載物臺(tái)上，使用測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行壓縮試驗(yàn)，然后再在光學(xué)顯微鏡下觀測(cè)；

壓潰過(guò)程試驗(yàn)力與壓縮位移的關(guān)系曲線

顯微鏡3D掃描:顆粒擠壓

產(chǎn)品特色

應(yīng)用案例