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瑞士CSM 納米壓痕測(cè)試儀(NHT2)

完全符合 ISO 與 ASTM 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

儀器簡(jiǎn)介：

CSM NHT2 （NHT第二代）納米壓痕測(cè)試儀采用了UNHT（CSM超納米壓痕儀）的先進(jìn)技術(shù)，其靈敏度及噪音水平和穩(wěn)定性得以顯著提高。采用先進(jìn)的top reference（表面參比測(cè)試技術(shù)）設(shè)計(jì)， NHT2 納米壓痕儀將熱漂移效應(yīng)（thermal drift）降低到了0.02nm/s的水平。客戶不需要軟件模擬近似扣除即可獲得可靠、穩(wěn)定的數(shù)據(jù)，也不需要長(zhǎng)期甚至隔夜的穩(wěn)定時(shí)間，對(duì)實(shí)驗(yàn)室的環(huán)境要求大為降低。

儀器應(yīng)用：

NHT2 納米壓痕儀主要用于測(cè)量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用于研究或測(cè)試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應(yīng)力-應(yīng)變曲線、疲勞、存儲(chǔ)模量及損耗模量等特性。可適用于有機(jī)或無(wú)機(jī)、軟質(zhì)或硬質(zhì)材料的檢測(cè)分析，包括PVD、CVD、PECVD薄膜，感光薄膜，彩繪釉漆，光學(xué)薄膜，微電子鍍膜，保護(hù)性薄膜，裝飾性薄膜等等。基體可以為軟質(zhì)或硬質(zhì)材料，包括金屬、合金、半導(dǎo)體、玻璃、礦物和有機(jī)材料等。

主要特點(diǎn)：

獨(dú)特的參比環(huán)設(shè)計(jì)-實(shí)時(shí)消除大部分熱漂移

帶有反饋系統(tǒng)的載荷加載系統(tǒng)

靈活的試樣夾具可夾持各種尺寸試樣（無(wú)需用膠粘結(jié)試樣）

高質(zhì)量金相顯微鏡觀測(cè)系統(tǒng)

計(jì)算機(jī)軟件包，自動(dòng)進(jìn)行數(shù)據(jù)獲取、儲(chǔ)存、分析等

豐富、靈活的擴(kuò)展空間

技術(shù)參數(shù)：

載荷范圍：0-500mN

載荷分辨率：40nN

**壓入深度：200um

位移分辨率： 0.004nm

選件：

其它力學(xué)測(cè)試模塊（如微納米劃痕、超納米壓痕等）

真空及環(huán)境(溫度、濕度）控制

原子力顯微鏡成像系統(tǒng)

環(huán)境隔離罩