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多年來，掃描探針圖像處理軟件SPIP™，已經成為實際意義上的納米級圖像處理的標準。**版SPIP™發布于1995年。然而Image Metrology公司的創始人Dr.Jan F. Jørgensen已于5年前就開始在其工科博士研究部分項目中開發SPIP™圖像處理軟件。期間曾與IBM及丹麥基礎計量研究所及丹麥科技大學等單位合作開發SPIP™軟件。

在超過42個國家的前沿的研究機構和高科技公司將SPIP™圖像處理軟件應用于半導體檢測中，物理，材料科學，化學，生物學，計量學技術，納米技術等很多領域。

SPIP™圖形分析軟件支持包括掃描探針顯微（SPM），干涉顯微鏡，掃描電子顯微鏡（SEM），共聚焦顯微鏡，光學顯微鏡，和三維輪廓儀等各種類型的顯微鏡及他們所生成的數據文件。無論你是資深的用戶或者是剛剛入門的圖像處理的初學者。使用SPIP™圖像處理軟件，您只需點擊幾下鼠標即可得到您需要的分析結果。

SPIP™圖像處理軟件是一個模塊化的軟件，提供包括一個基礎軟件分析模塊和13個可選的附加模塊。基礎模塊包含必要的基本特征分析，例如文件讀取、數據分析、平面校正等功能。附加模塊則是為針對某些特定功能測試提供，包括歸一化校準、降低噪聲、分析、3D構建。在隨后的彩頁中你會發現各項功能的詳細介紹。從中您可以學到如何提高您工作的效率和質量。

¨ 掃描探針顯微鏡（SPM）

¨ 掃描電子顯微鏡（SEM）

¨ 透射電子顯微鏡（TEM）

¨ 干涉儀

¨ 共焦顯微鏡

¨ 三維輪廓儀

---基本分析模塊

校準和特征展現

---校準

---針尖的表征

降低噪聲，提高特征

---相關平均

---濾波

---擴展的傅立葉分析

測量和分析

---粒度分析

---粗糙度及硬度分析

---力曲線的分析

---隧道效應光譜電流圖像

可視化

---三維可視化工作環境

---視頻與時間序列分析

增益生產能力

批量處理模塊和自動報告

組織

--- 圖片瀏覽器

定制

---插頭接口