粉體行業在線展覽
53X-C
面議
53X-C
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此儀器是用于鑒別和分析各種金屬和合金的組織結構,可廣泛地應用在工廠或實驗室進行鑄件質量的鑒定;原材料的檢驗或對材料處理后金相組織的研究分析,觀察金屬、硅片等反射標本的表面結構和芯片檢查,也可觀察具有一定反射率的透明標本的表面結構。
可廣泛地應用在工廠或實驗室進行鑄件質量的鑒定;原材料的檢驗或對材料處理后金相組織的研究分析,觀察金屬、硅片等反射標本的表面結構和芯片檢查,也可觀察具有一定反射率的透明標本的表面結構。
可廣泛地應用在工廠或實驗室進行鑄件質量的鑒定;原材料的檢驗或對材料處理后金相組織的研究分析,觀察金屬、硅片等反射標本的表面結構和芯片檢查,也可觀察具有一定反射率的透明標本的表面結構。
類型 | 金相顯微鏡 | 品牌 | 上海精科 | 型號 | 53X-C |
目鏡放大倍數 | 10X/Φ18 12.5X/Φ15 | 物鏡放大倍數 | 4X10X40X | 儀器放大倍數 | 40X-500X |
重量 | 4000(g) | 適用范圍 | 廣泛 | 裝箱數 | / |
加工定制 | 否 | 規格 | 5XC帶數碼適配鏡尼康4500 |
型號 | 產品名稱 | 規格 | 參考價格 |
53X-C | 數碼攝影金相顯微鏡 | 5XC帶數碼適配鏡尼康4500數碼相機(400萬像素) | 18200.00 |
技術參數 |
YH MIP-0103型
P100
OPTM series
AFM5500M
53X-C
Nanonics MV2500
JEM-ARM200F NEOARM
QDAFM
牛津儀器原子力顯微鏡
AFM5500M
高真空原子力顯微鏡