国产成人无码aⅴ片在线观看 ,续父开续女包视频,小雪第一次尝到又大又粗

TESCAN TIMA-X FEG(GM) 綜合礦物分析儀

TESCAN TIMA-X FEG(GM)

直接聯系

泰思肯貿易（上海）有限公司.

歐洲

產品規格型號

參考報價：

500萬以上

型號：

TESCAN TIMA-X FEG(GM)

關注度：

9974

范圍（量程或細度）：

應用行業：

應用范圍很寬，包括礦石性質、工藝優化、修復、貴金屬和稀土的尋找等。

產品介紹

二次電子圖象分辨率	1.2nm @ 30keV	放大倍數	1~1,000,000 x
背散射電子圖像分辨率	2.0nm @ 15keV	加速電壓	0.2~30 kV

產地屬性	歐洲	儀器種類	場發射
價格范圍	500萬-700萬

TESCAN綜合礦物分析儀（TIMA）是一款新型的自動礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業。TIMA可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進行自動礦產豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。

TIMA的應用范圍很寬，包括礦石性質、工藝優化、修復、貴金屬和稀土的尋找等。TESCAN的獨特技術是基于一個完全集成的EDX系統執行快速的全光譜掃描。 SEM與EDX硬件的一體化技術提供了****的數據采集速度，進而得到快速、準確和可靠的結果。

TIMA硬件

TESCAN TIMA基于MIRA肖特基場發射或者VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡。MIRA鏡筒的特殊設計（電子槍的恒真空與隔絕閥）提高了發射的穩定性和鎢燈絲的使用壽命。該系統提供高真空模式為標準，低真空模式為選配。

大樣品室、由計算機控制的超快樣品臺、礦物樣品支持器的特殊設計。樣品臺可以同時容納7塊直徑**為30mm的樣品。樣品臺內可放入直徑25 mm至32 mm的樣品。樣品臺有EDX/BSE校準標準、鉑Faraday筒（BSE信號校準）與錳、銅、石英、碳和金元素（系統性能檢查）。標準校準的元素可以根據客戶要求定制。

配件：