粉體行業在線展覽
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ZEM Ultra場發射臺式掃描電鏡
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安徽澤攸科技有限公司
安徽
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安徽澤攸
ZEM Ultra場發射臺式掃描電鏡
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ZEM Ultra 臺式掃描電鏡采用肖特基場發射電子源，三級獨立真空設計，優于2.5nm的分辨率滿足多數樣品微納結構表征需求。標配大束流及大樣品倉，支持原位功能樣品臺及EDS/EBSD拓展。
產品特色：
▲ 易用性強
▲ 全自動操作
▲ 肖特基場發射電子槍
▲ 高穩定性
▲ 高分辨觀測
▲ 豐富拓展
應用案例：
金顆粒150000X （左）碳納米管 20000X（右）
磷酸鐵鋰 30000X（左）二氧化硅 100000X（右）
| 主要指標 | ZEM Ultra |
| 分辨率 | ＜2.5 nm |
| 放大倍數 | 50萬倍 |
| 圖像像素尺寸（默認） | 512*512（視頻）2048*2048（拍照） |
| 加速電壓 | 1-15kv連續可調 |
| 燈絲類型 | 場發射燈絲 |
| 電動樣品臺 | XY二軸/XYZ三軸/XYT三軸/五軸 |
| 探測器類型 | BSE、SE、EDS |
| 減速模式 | 選配（0-10kv樣品臺電壓減速） |
| 光學導航 | 光學導航、倉內相機 |
| 樣品倉內部尺寸 | 176mm寬*185mm長*125mm高 |
| 自動功能 | 自動亮度對比度、自動聚焦、大圖拼接 |
| 原位臺拓展功能 | 具備 |
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