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超高真空低溫四探針掃描探針顯微鏡

美國RHK Technology 成立于1981 年。作為SPM 工業中的領軍儀器制造商，RHK-Technology 始終保持著鮮明的特色：創新性、可靠性、產品設計的開放性與優秀的客戶支持。憑借著其優異的系統設計、精良的制造工藝、再加上與世界**科學家的緊密合作，二十多年來RHK Technology 源源不斷地向全世界科學家們輸送著先進的、高精度的科學分析儀器。

變溫QuadraProbe UHV 4-探針SPM系統是RHK公司生產的多探針UHV SPM系統中的一種，該系統提供了多種分析功能、配備了多個超高真空室和相應的電子控制單元與軟件，可以極大地滿足客戶全面的研究應用需要。

基本系統中提供了低溫4探針掃描隧道顯微鏡（SPM），掃描電子顯微鏡（SEM），樣品準備室和用于傳輸樣品和針尖的快速進樣室。其他的設備如掃描俄歇顯微鏡（SAM）也可選配以滿足客戶特別的研究需要。

技術參數：

- 樣品溫度：10K（LHe）； 80K（LN2）

- 掃描范圍：1.5μm（300K）；500nm （10K）

- X，Y，Z粗進針：±1.5mm/step motion

- 樣品定位精度：±1.5mm

- STM分辨率：四個探針均可實現HOPG的原子分辨

- SEM分辨率：小于20nm

- 針尖材料：鎢或者鉑、金等金屬修飾的鎢針尖。

主要特點：

- 四個探針都能實現原子分辨；

- 真正的樣品和針尖低溫操作（10K），得到**的高分辨譜圖；

- 探針與樣品獨立地傳輸與準備；

- 所有探針具有先進的控制操作；

- 用戶可編程控制的開放性控制環境；

- 制冷采用Bath Cryostat構造，極大地減少了液氦的消耗；

- 可升級到非接觸式AFM；

- 樣品臺處配有可選擇的超導磁體；

- 通過光纖實現樣品的光學激發。