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亞帶隙測量系統(tǒng)半導體材料能帶測試

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上海沃埃得貿(mào)易有限公司

日本

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產(chǎn)品介紹

半導體材料能帶測試，亞帶隙測量系統(tǒng)

該系統(tǒng)采用恒定光電流法分析半導體薄膜和各種光導材料的帶隙結(jié)構(gòu)，是評價非晶硅和各種非晶半導體的理想方法。

規(guī)格：

原理:恒流法(CPM)

光源:氙燈或鹵素燈

工作范圍:約4小時，13 - 0.59 ev (300 - 2100 nm)

輻照面積:6 x6mm

輻照強度:2 nw-2mw

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亞帶隙測量系統(tǒng)半導體材料能帶測試

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