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白光干涉儀

直接聯系

廣州市固潤光電科技有限公司

德國

產品規格型號

參考報價：

面議

關注度：

1167

產品介紹

簡介：

• 通用

• 高度精密

• 快速

• 穩健可靠

• 自動拼接

白光干涉法是一個確定地形和表面光滑粗糙的方法。測量精度可達到近似納米理論上無限的高度范圍。這款白光干涉儀能夠用來測量和分析樣本的納米分辨率。數據分析是在筆記本或桌面電腦原位上做的。

這款白光干涉儀有全功能設置，因而可以用在許多不同的情況使用。機動xy-stage結合自動拼接程序因而能測量大面積。主要應用包括在質量管理和過程控制的使用。這款白光干涉儀通過其快速、準確的檢測，提供**條件產生有意義的尺度來確保產品和流程的質量。

延伸款白光干涉儀技術參數

• 花崗巖臺和花崗巖柱

• 手控臺XY(226 x232mm ，可移位范圍76 x52mm )

• 延伸款白光干涉儀的探測頭配有物鏡轉換器

• PC with MS Windows 7，NVIDIA GPU數據處理超快

• smartWLl軟件的縫合模塊可以用來測量地形

• MountainsMap Image Topogrdpy

先進的表面分析與視覺測量報告

采用行業標準Mountains Technology，MountainsMap Imaging Topography是一流的實驗室、研究機構和工業設施的設計以解決、設計、測試或制造功能方案。

該軟件提供了一個全面的解決方案以進行觀察和分析表面紋理和幾何，以及產生詳細的視覺表面計量報告

測量系統
測量原理	白光干涉法
Z-定位系統	Piezo物鏡調整系統
高度測量范圍	**到400um
物鏡放大測量領域橫向*小可溶解的間隔	2.5x，5x，10x，20x，50x，100x 4.12x3.06mm to 0.103x0.075mm 10.54um or 0.55um
光源	LED
測量時間	< 20 sec.
軟件
smartWLI	軟件用于測量地形和使用一個直接接口到MountainsMap分析軟件輸出的3D數據
MountainsMap	廣泛的分析軟件以及輪廓和三維可視化、測量數據預處理和后處理 DIN EN ISO粗糙度和高度的含量測定，順序處理，測量記錄
File formats	ASCII， SUR， BCR-STM， BMP， JPEG， TIFF