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儀器簡(jiǎn)介：

DIC（Digital Image Correlation）數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)是一種非接觸式測(cè)量材料全場(chǎng)應(yīng)變、位移的光學(xué)測(cè)量技術(shù)，該技術(shù)幾乎適用于任何材料且測(cè)試面積廣、結(jié)果精確。

Dantec DIC Q-400丹迪公司研發(fā)生產(chǎn)的一款測(cè)量材料表面位移與應(yīng)變的標(biāo)準(zhǔn)DIC設(shè)備，該設(shè)備不與被測(cè)物體表面發(fā)生接觸，通過(guò)追蹤物體表面的散斑圖像，實(shí)現(xiàn)變形過(guò)程中物體表面三維坐標(biāo)、位移場(chǎng)和應(yīng)變場(chǎng)的測(cè)量。該設(shè)備幾乎適用于任何材料且測(cè)量范圍廣、測(cè)量精度高。

技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量維度：二維、三維

測(cè)量區(qū)域：10mm×10mm—5m×5m（該區(qū)間外也可測(cè)量，但測(cè)量精度會(huì)相應(yīng)下降）

測(cè)量精度：位移（1μm），應(yīng)變（0.005%）

主要特點(diǎn)：

精度高、測(cè)量范圍廣、無(wú)接觸、方便使用