粉體行業(yè)在線展覽
RIGAKU日本理學新一代形貌檢測系統(tǒng) XRTmicron
面議
上海翱晶
RIGAKU日本理學新一代形貌檢測系統(tǒng) XRTmicron
775
●X射線源:微焦點高亮度旋轉(zhuǎn)陽極
●入射光學器件:多層平行光束準直器
●可使用晶體準直器
●自動更換樣品(以水平配置為例)
●兼容投射&反射幾何的測角儀系統(tǒng)
●使用高靈敏度和高分辨率X 射線照相機捕獲數(shù)字圖像
●位錯形貌圖像分析
●不僅用于研發(fā),也用于批量質(zhì)量管控
混合激光顯微鏡
半導體襯底和外延
KOH腐蝕爐
平坦度測量儀
晶片晶格畸變應力掃描儀
氮化鎵(GaN)MOCVD系統(tǒng)
碳化硅(SiC)外延爐
高精度全自動減薄機
半導體晶片倒角機
半導體晶片倒角測量儀
半導體芯片老化和邏輯測試系統(tǒng)
RIGAKU日本理學新一代形貌檢測系統(tǒng) XRTmicron
電腦組合體系VG42
UNI800C多物料配料控制儀
在線HPXRF檢測設備
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統(tǒng)
金屬稱重檢測一體機
BSD-PB(氣液法)
片式電容四參數(shù)測試機
0~10%糖度
三路浮子流量計 MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測儀
GJT-2F系列金屬探測儀