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產(chǎn)品特點(diǎn)

l   適合各種納米材料及薄膜的表面粗糙度或表面形貌測量。

l   無需抽真空，可快速得到測量結(jié)果

l   直觀的操作界面

l   一鍵掃描的快速功能

產(chǎn)品概述

    可應(yīng)用于高解析影像和測量需求，特別是具備次納米級的 Z 軸分辨率。其低噪聲和開回路設(shè)計(jì)于一體的掃描儀可以快速地針對樣本進(jìn)行掃描。獨(dú)特光像散式的光路模塊提供業(yè)界*小的雷射光點(diǎn)，讓用戶可運(yùn)用于更小且快速的AFM 探針。

    直觀的數(shù)據(jù)擷取軟件 PSX，只需簡單培訓(xùn)，即可直接操作。值得一提的是，一鍵掃描功能可自動設(shè)定參數(shù)并進(jìn)行掃描，用戶同樣能夠快速獲得高質(zhì)量的掃描結(jié)果。PSX 內(nèi)置的掃描庫管理功能可以有效地簡化掃描數(shù)據(jù)的整理，以方便用戶刪除或輸出掃描圖文件。

    **性的光路校準(zhǔn)系統(tǒng)---雷射點(diǎn)實(shí)時(shí)維持在四象限二極管中心，不須另外校正。

    一鍵掃描，運(yùn)用智能預(yù)測算法，輕松點(diǎn)擊按鍵便可進(jìn)行全自動掃頻、下針、做力圖曲線、以及掃描樣品等相關(guān)流程。