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掃描電鏡高溫力學原位硏究系統(In-situ mechanical testing system at High temperature in SEM)是國家重大科學儀器研制專項的成果轉化產品，其特征是將宏觀材料力學實驗置于具有與納米分辨的掃描電子顯微鏡內，實現了宏觀力學性能與納米層次結構分析的一體化。主要功能為在納米分辨的二次電子成像和背散射成像(EBSD)的觀察條件下，實現室溫至1200°C高溫的拉伸、壓縮、三點彎曲等原位力學實驗。主要用于硏究各類材料在力、熱以及耦合條件下的力學性能測試與微觀組織結構演變機制硏究。該儀器也可以兼容匹配各類光學顯微鏡(OM)、X射線衍射儀(XRD)和原子力顯微鏡(AFM)等材料微觀分析儀器。