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CCD 光電性能測量系統(tǒng)又稱CCD成像電子學(xué)系統(tǒng)光電聯(lián)試定量測試設(shè)備。本系統(tǒng)能夠解決空間光學(xué)遙感器研制中光電成像器件選型、采取抗輻射加固設(shè)計(jì)及輻射校正設(shè)計(jì)及為光電成像器件受輻照后性能變化的機(jī)理研究提供檢測手段等諸多科學(xué)問題；同時(shí)能夠在業(yè)界對光電成像器件抗輻射性能評價(jià)的標(biāo)準(zhǔn)化和規(guī)范化起到積極推進(jìn)作用。

技術(shù)指標(biāo)

• 工作光譜波段：380nm~1000nm

• 光譜分辨率：20nm~40nm

• A/D 量化等級：14bit

• 動(dòng)態(tài)范圍：80dB

• 測量**值不確定度：低于8%

• 重復(fù)性誤差：不大于3%

測試內(nèi)容

• 飽和輸出電壓（SV)

• 飽和曝光量 （SE)

• 光輻照響應(yīng)度（燈光照明下的R)

• 相對光譜響應(yīng)度 Rs

• 響應(yīng)度非均勻性（PRNU)

• 電荷轉(zhuǎn)移效率（CTE)

• 光譜和白光傳遞函數(shù)（MTF)

• 暗信號 （DS)

• 暗噪聲 （v_NOISE )

• 噪聲等效曝光量（NEE)

• 動(dòng)態(tài)范圍 （DR)

• 非線性度 （NL)

• 固態(tài)圖片噪聲 （FPN)