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儀器簡介：

ESPI（Eletronic Speckle Pattern Interferometry）電子散斑干涉技術是以激光散斑作為被測物場變化信息的載體，利用被測物體在受到激光照射后產生干涉散斑場的相關條紋來檢測雙光束波前后之間的相位變化。

電子散斑干涉技術（ESPI）是一種非接觸式全場實時測量技術，可完成位移、應變、表面缺陷和裂紋等多種測試，其具有通用性強、測量精度高、測量簡便等優點。

Dantec Q-300 ESPI是丹迪公司研發生產的一款用于試件高靈敏度的三維位移、變形和應變分析的光學儀器。

技術參數：

測量維度：一維、二維、三維

測量區域：**可達200mm×300mm

測量精度：位移（0.03—0.1μm可調），應變（0.005%—100%）

主要特點：

高速、精度高、無接觸、方便使用